[发明专利]一种测试方法、装置及终端

说明书

本发明实施例公开一种测试方法、装置及终端，其中，该测试方法可以从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。可见，实施该实施例，可以基于测试数据集实现曝光算法的离线测试，从而改善曝光算法的开发及优化效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种测试方法、装置及终端。

背景技术

自动曝光技术是根据不同拍摄场景中物体反光强度的差异性对相机曝光时间和增益等进行调节，以达到目标物体在拍摄图像中的亮度值接近目标亮度值，该曝光参数的调节方法也可以称为自动曝光算法。具体的，该调节过程可以包括以下步骤：确定当前拍摄图像的亮度指标，将该亮度指标与期望的亮度指标比较，如果当前的亮度指标高于期望的亮度指标，则指示控制电路缩短曝光时间或者减小模拟数字增益值，反之则延长曝光时间或者增大模拟数字增益值。

其中，该自动曝光算法的优劣须涵盖到几乎所有的应用场景才有可能证明该自动曝光算法的实际应用效果。因此，自动曝光算法在开发过程中，需要在各种场景中进行大量的在线测试才能具体确定其性能。然而，这些实地测试会耗费大量的时间和精力，严重影响自动曝光算法的开发及优化效率。

发明内容

本发明实施例提供一种测试方法、装置及终端，可以对曝光算法进行离线测试，从而改善曝光算法的开发及优化效率。

一方面，本发明实施例提供一种测试方法，该测试方法可以包括：

从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；

获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；

根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；

显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。

另一方面，本发明实施例还提供一种测试装置，该测试装置可以包括：

读取模块，用于从测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；

获取模块，用于获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；

确定模块，用于根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；

显示模块，用于显示所述测试图像基于所述期望曝光参数进行模拟曝光后的目标图像，以便于以所述目标图像为参考对所述被测曝光算法进行性能评估。

又一方面，本发明实施例还提供一种终端，该终端可以包括处理器、存储器以及显示装置，其中：

所述存储器，用于存储测试数据集；

所述处理器，用于从所述存储器存储的测试数据集中读取测试图像，所述测试数据集中包括拍摄测试场景获得的测试图像；

所述处理器，还用于获取所述测试图像的图像参数，所述图像参数包括所述测试图像的亮度值和曝光时间；

所述处理器，还用于根据所述测试图像的图像参数和被测曝光算法，确定所述测试图像的期望曝光参数，所述期望曝光参数包括期望曝光时间和期望增益；