[发明专利]使用用于样本位置的辅助图像检测器的成像系统

说明书

使用用于样本位置的辅助图像检测器的成像系统和方法。示例性系统可包括：光源，其在照射轴上照射样本；第一图像检测器，其在倾斜于照射轴的光轴上；和载物台。系统还可包括第二图像检测器，其设置在成像轴上；驱动机构，其被配置成将载物台和成像轴相对彼此移动。系统可进一步包括处理器，其被配置成(a)接收通过第一图像检测器检测到的样本的图像，(b)确定通过图像内的样本产生的对比区域的物理位置，和(c)基于物理位置发送信号至驱动机构以将样本的至少一部分设置在第二图像检测器的视场中。

相关申请交叉引用

本申请要求于2016年3月24日提交的美国申请号15/079,495的优先权，其内容通过引用以其整体并入本文。

背景技术

组织样本能够被准备为在载玻片上成阵列设置的一系列薄片以利用显微镜检查。显微镜可配备有数字图像器和图像处理软件以自动化图像收集和分析的方面。然而，组织样本能够难于位于载玻片上，因为它们通常以不规则的阵列布置且具有从载玻片到载玻片变化的位置。搜寻样本因此通常遇到瓶颈。可以利用显微镜来系统地扫描整个载玻片，但视场通常很小；必须收集许多图像以找到样本。例如，利用通常用于组织成像的放大率，每个图像能够表示小于1％的载玻片的样本支持面积。因此，将需要收集和处理100张以上图像以扫描载玻片的整个样本支持面积。

发明内容

本公开提供使用用于样本位置的辅助图像检测器的成像系统和方法。示例性系统可包括：光源，其在照射轴上照射样本；第一图像检测器，其在倾斜于照射轴的光轴上；和载物台。系统还可包括第二图像检测器，其设置在成像轴上；驱动机构，其被配置成将载物台和成像轴相对彼此移动。系统可进一步包括处理器，其被配置成(a)接收通过第一图像检测器检测到的样本的图像，(b)确定通过图像内的样本产生的对比区域的物理位置，和(c)基于物理位置发送信号至驱动机构以将样本的至少一部分设置在第二图像检测器的视场中。

附图说明

图1是根据本公开的方面的具有用于成像样本(如，组织切片)的位置成像器以进行定位样本以进一步利用系统的内涵成像器进行成像的示例性显微镜成像系统的示意图。

图2是根据本公开的方面的用于图1的成像系统的示例性位置成像配置的示意图，其中，样本未被染色且被倾斜照射。

图3是通常沿图2的线3–3截取的在倾斜照射载玻片和样本时支持图2中的未染色的样本的载玻片的平面图，且图3示意性说明由于通过样本的更多散射导致的在样本和载玻片之间的光学对比度。

图4是根据本公开的方面的用于图1的成像系统的另一示例性位置成像配置的示意图，其中，样本未被染色且被倾斜照射。

图5是根据本公开的方面的除了带有已经利用着色剂处理的样本外的图2的位置成像配置的另一示意图。

图6是通常沿图5的线6–6截取的在倾斜照射载玻片和样本时支持图5中的染色样本的载玻片的平面图，且图6示意性说明由于通过样本的更多吸收导致的在样本和载玻片之间的光学对比度。

图7是根据本公开的方面的带有已经被染色的样本的图4的位置成像配置的另一示意图。

图8是根据本公开的方面的用于图1的成像系统的又一示例性位置成像配置的示意图，其中，从上方倾斜照射样本。

图9是根据本公开的方面的图1的显微镜成像系统的示例性布置的示意图，其中，在不同站中执行位置成像和主成像。

图10A至图10C是根据本公开的方面的分别在位置模式下，落射照明内涵模式下(epi-illumination content mode)和在透射照明内涵模式下操作的图1的显微镜成像系统的示例性实施例的示意图。

图11是根据本公开的方面的具有用于校准图1的位置成像器的参考标记的示例性校准载玻片的平面图。