[发明专利]用于评估电子部件的方法和系统有效
申请号: | 201780021918.6 | 申请日: | 2017-03-30 |
公开(公告)号: | CN109074411B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | J·科克雷尔;T·M·麦克勒奥德 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | G06F30/30 | 分类号: | G06F30/30;G06F30/3308;H04L41/08;H04L41/14;H04L67/10;H04L67/75;G06F111/02 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 评估 电子 部件 方法 系统 | ||
1.一种用于评估电子元件的系统,该系统包括:
服务器计算设备,包括处理器单元并被配置为执行评估应用程序,其中所述评估应用程序被配置为执行包括以下的操作:
为在用户计算装置上执行的用户应用程序提供评估用户界面;
从所述用户应用程序并经由所述用户界面接收用于评估的电子部件的指示;
访问所述电子部件的配置数据集,其中所述配置数据集包括:描述所述电子部件的一组参数的参数数据;描述参数集的第一参数与第一模型输入参数之间的关系的绑定数据;和描述所述电子部件的模型的模拟器数据;和
至少部分地基于所述配置数据集来评估所述电子部件。
2.权利要求1所述的系统,其中所述配置数据集还包括描述第一束的第一束数据,该第一束包括该组参数的参数的子集,其中所述评估应用程序还被配置为执行包括以下的操作:
确定所述第一束已启用;和
向所述用户提供描述所述用户界面的部件的应用字段描述数据,用于接收参数的子集的值。
3.权利要求1或2中任一项或多项所述的系统,其中所述评估应用程序还被配置为执行包括以下的操作:
从所述用户应用程序接收信号链数据,其中所述信号链数据描述所述电子部件和分析;
接收数据流;和
启动分析以从所述数据流生成评估输出数据。
4.权利要求3所述的系统,其中所述评估输出数据包括描述第一模型输出参数与时间的绘图数据。
5.权利要求3或4中任一项或多项所述的系统,其中所述评估输出数据包括描述第一模型输出参数的频率内容的频率内容数据。
6.权利要求1至5中任一项或多项所述的系统,其中所述评估应用程序还被配置为执行包括以下的操作:
从所述用户应用程序并经由所述用户界面接收第一参数的第一值;
至少部分地基于第一参数的第一值和绑定数据生成所述第一模型输入参数的第一值;
至少部分地基于所述第一模型输入参数的第一值来启动所述电子部件的模型;和
向所述用户应用程序提供评估输出数据用于显示在所述用户界面,其中所述评估输出数据至少部分地基于所述模型的输出。
7.权利要求6所述的系统,其中启动模型包括执行可执行模型。
8.权利要求6或7中任一项或多项所述的系统,其中启动模型包括启动与所述服务器计算装置通信的物理模型电路。
9.权利要求6至8中任一项或多项所述的系统,其中所述评估应用程序还被配置为执行包括以下的操作:
接收描述所述模型的第一模型输出参数的数据流;
至少部分地基于所述第一参数的第一值选择所述第一模型输出参数的一组频率杂散;和
确定该组频率杂散的第一频率杂散的功率,其中所述评估输出数据包括描述所述第一频率杂散的功率的功率数据。
10.权利要求9所述的系统,其中所述电子部件是转换器;和
其中所述评估应用程序还被配置为执行包括以下的操作:
接收描述所述模型的刺激信号的刺激信号数据;和
至少部分地基于所述刺激信号的基频和预转换偏移来确定所述第一频率杂散。
11.权利要求9或10中任一项或多项所述的系统,其中所述电子部件是转换器;和
其中所述评估应用程序还被配置为执行包括以下的操作:
接收描述所述模型的刺激信号的刺激信号数据;
至少部分地基于所述刺激信号的基频来确定所述第一频率杂散;和
至少部分地基于所述刺激信号的基频和乘数来确定该组频率杂散的第二频率杂散。
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