[发明专利]用于评估电子部件的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201780021918.6 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN109074411B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: J·科克雷尔;T·M·麦克勒奥德 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: G06F30/30 分类号: G06F30/30;G06F30/3308;H04L41/08;H04L41/14;H04L67/10;H04L67/75;G06F111/02
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 刘倜
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 评估 电子 部件 方法 系统
【说明书】:

各种示例涉及用于评估电子部件的系统和方法。服务器计算装置可为在用户计算装置上执行的用户应用程序提供评估用户界面。服务器计算装置可从用户应用程序并经由用户界面接收用于评估电子部件的指示,并访问电子部件的配置数据集。配置数据集可包括描述所述电子部件的一组参数的参数数据;描述参数集的第一参数与第一模型输入参数之间的关系的绑定数据;和描述所述电子部件的模型的模拟器数据。服务器计算装置也可以至少部分地基于配置数据集来评估电子部件。

要求优先权

本申请要求2016年3月30日提交的美国临时申请序列号62/315,380和2017年2月22日提交的美国专利申请序列号15/439,822的权益,其公开内容通过引用全部结合在此。

背景技术

与许多类型的环境传感器(例如,温度、振动、加速度、光、速度、声音等)的接口通常包括使用模拟电路和混合信号电路来接收和转换来自传感器的信号以提供离散时间或数字代表。随着不同可用传感器类型的范围扩大并且随着精度的不断提高,能够处理和转换来自传感器的信号的电路设计变得越来越复杂。与此同时,模拟硬件设计专业知识在应用和系统设计工程师中正在逐渐减少,而焦点则转向一个或多个软件或传感器专业知识。

发明内容

各种示例涉及用于评估电子部件的系统和方法。服务器计算装置可为在用户计算装置上执行的用户应用程序提供评估用户界面。服务器计算装置可从所述用户应用程序并经由所述用户界面接收用于评估的电子部件的指示,并访问所述电子部件的配置数据集。配置数据集可包括:描述所述电子部件的一组参数的参数数据;描述参数集的第一参数与第一模型输入参数之间的关系的绑定数据;和描述所述电子部件的模型的模拟器数据。如本文所述,模型可以驻留在服务器计算装置或不同的位置。服务器计算装置也可以至少部分地基于配置数据集来评估电子部件。

还公开了另外的示例,包括方法和机器可读介质示例。

附图说明

在附图中,不一定按比例绘制,相同的附图标记可以描述不同视图中的类似组件。具有不同字母后缀的相同数字可表示类似组件的不同实例。附图通过示例而非限制的方式示出了本文件中讨论的各种示例实施例。

图1示出了根据本公开的示例实施例的环境。

图2示出了根据本公开的示例实施例的评估系统。

图3是示出根据本公开的示例实施例的环境的另一示例实施例的图。

图4是示出配置数据集的一个示例实施例的图。

图5示出了根据本公开的示例实施例的信号链。

图6是示出图5的另一示例信号链的图。

图7是示出又一示例信号链的图。

图8是示出利用客户端和评估工具来评估示例信号链的一个示例评估的图。

图9是示出可以被执行以实现快速傅里叶变换(FFT)分析的处理流程的一个示例实施例的流程图。

图10是示出可以被执行以检测模数转换器(ADC)的削波的处理流程的一个示例的流程图。

图11是示出可以经由用户界面(UI)提供给用户的评估屏幕的一个示例的屏幕截图。

图12是示出具有附加特征的评估屏幕的另一示例的屏幕截图。

图13是示出选择了FFT分析标签的图11和12的评估屏幕的另一示例的屏幕截图。

图14是示出了选择了波形标签的图11和12的评估屏幕的另一示例的屏幕截图。

图15是示出图11和12的评估屏幕的另一示例的屏幕截图,其中选择了下一步骤选项卡。

图16是示出图11和12的评估屏幕的另一配置的示例的屏幕截图。

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