[发明专利]底面位置检测装置、图像获取装置、底面位置检测方法以及图像获取方法在审
申请号: | 201780021925.6 | 申请日: | 2017-04-05 |
公开(公告)号: | CN108885088A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 柴田文晴;池泽良介;小久保正彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社斯库林集团 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;C12M1/34;G02B7/28;G02B21/00;G01N1/28 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇;宋晓宝 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 底面位置 检测 反射光 底面 检测装置 凹部 图像获取装置 峰值位置 光照射部 反射 图像获取 照射光 图像 细胞 配置 | ||
1.一种底面位置检测装置,检测透光性的容器的底面位置,其中,
所述底面位置检测装置具有:
保持部,将所述容器保持为水平;
光照射部,向所述容器的底部照射光;
检测部,检测从所述光照射部照射并在所述容器反射的光;以及
控制部,
所述容器具有沿上下凹陷的一个以上的凹部,
所述检测部检测从所述容器的底面即第一底面反射的第一反射光以及从所述凹部的底面即第二底面反射的第二反射光,
所述控制部基于所述检测部检测到的第一反射光的第一峰值位置以及第二反射光的第二峰值位置,计算所述第二底面的位置。
2.根据权利要求1所述的底面位置检测装置,其中,
所述光照射部朝向所述容器的底部,并向斜上方照射光。
3.一种图像获取装置,获取配置于所述容器的所述凹部的细胞的图像,其中,
所述图像获取装置具有:
权利要求1或2所述的底面位置检测装置;
拍摄部,拍摄所述凹部内的细胞的图像;
图像处理部,对由所述拍摄部拍摄的图像进行处理;
上下方向移动机构,使所述保持部沿上下方向移动;
自动对焦机构,调整所述拍摄部相对于所述细胞的焦点位置;以及
水平方向移动机构,使所述拍摄部、所述光照射部以及所述检测部相对于所述容器沿水平方向相对移动,
所述控制部一边参照所述检测部的检测结果,一边控制所述上下方向移动机构,在所述拍摄部的焦点位置对焦于所述第二底面后,控制所述自动对焦机构。
4.根据权利要求3所述的图像获取装置,其中,
所述控制部将某个位置下的所述第二底面的位置作为自动对焦基准位置进行存储,在控制所述水平方向移动机构后,基于所述自动对焦基准位置以及所述检测部检测到的所述第二峰值位置,控制所述自动对焦机构。
5.根据权利要求3或4所述的图像获取装置,其中,
所述控制部将所述第一峰值位置与所述第二峰值位置的差分作为替代校正值进行存储,在控制所述水平方向移动机构后,基于所述检测部检测到的第一峰值位置以及所述替代校正值,控制所述自动对焦机构。
6.一种底面位置检测方法,检测具有沿上下凹陷的一个以上的凹部的透光性的容器的底面位置,其中,
所述底面位置检测方法具有:
工序a),将所述容器保持为水平;
工序b),从光照射部向所述容器的底部照射光;
工序c),通过检测部检测向所述容器的底部照射并在所述容器反射的光;以及
工序d),计算所述容器的底面位置,
在所述工序c)中,检测从所述容器的底面即第一底面反射的第一反射光以及从所述凹部的底面即第二底面反射的第二反射光,
在所述工序d)中,基于由所述工序c)检测到的第一反射光的第一峰值位置以及第二反射光的第二峰值位置,计算所述第二底面的位置。
7.根据权利要求6所述的底面位置检测方法,其中,
在所述工序c)中,朝向所述容器的底部,并向斜上方照射光。
8.一种图像获取方法,包含权利要求6或7所述的底面位置检测方法,获取配置于所述容器的所述凹部的细胞的图像,其中,
所述图像获取方法具有:
工序e),通过拍摄部拍摄所述凹部内的细胞的图像;以及
工序f),对所述拍摄部所拍摄的图像进行处理,
在所述工序d)中,一边参照所述工序c)的检测结果,一边使所述容器沿上下方向移动,在所述拍摄部的焦点位置对焦于所述第二底面后,通过自动对焦机构调整所述拍摄部相对于所述细胞的焦点位置。
9.根据权利要求8所述的图像获取方法,其中,
在所述工序d)中,将某个位置下的所述第二底面的位置作为自动对焦基准位置进行存储,在控制所述水平方向移动机构后,基于所述自动对焦基准位置以及所述检测部检测到的所述第二峰值位置,控制所述自动对焦机构。
10.根据权利要求8或9所述的图像获取方法,其中,
所述工序d)包括如下工序:将所述第一峰值位置与所述第二峰值位置的差分作为替代校正值进行存储,基于在所述工序c)中检测到的第一峰值位置以及所述替代校正值,控制所述自动对焦机构。
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