[发明专利]组合传感器

权利要求书

1.一种用于自动地非接触式检测细长物体(W)的装置，所述装置包括基于不同测量方法的至少两个光学测量系统(D、C)，其中，用于确定所述物体(W)的外径(Wdo)的至少一个第一光学测量系统(D)和用于确定所述物体(W)的颜色的至少一个第二光学测量系统(C)，其中，所述第一光学测量系统(D)至少包括第一照射装置(DP1)和定位在测量空间(DCPv)的相反侧的第一传感器阵列(DP4)，其中，透镜(DCP2)布置在所述第一照射装置(DP1)与所述测量空间(DCPv)之间，所述透镜被设计和定位为用于所述第一照射装置(DP1)的光线的准直透镜，并且其中，所述第二光学测量系统(C)包括至少一个第二照射装置(C1)、第二传感器阵列(C4)，其特征在于，用于确定所述物体(W)的外径(Wdo)的所述至少一个第一光学测量系统(D)和用于确定所述物体(W)的颜色的所述至少一个第二光学测量系统(C)形成具有所述测量空间(DCPv)的组合，并且所述至少一个第二光学测量系统(C)包括长通滤波器(C3)，其中，所述长通滤波器(C3)布置在所述第一照射装置(DP1)与所述透镜(DCP2)之间，反射所述第二光学测量系统(C)的波长光谱并传送所述第一光学测量系统(D)的光线，并且与所述透镜(DCP2)一起被设计和定位为使得所述长通滤波器(C3)被所述物体(W)的反射光线穿过两次并将所述物体(W)的图像投射到所述第二传感器阵列(C4)上。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测量空间(DCPv)是盘形的并且布置在引导装置(4a、4b)的两侧端部之间。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述第一光学测量系统(D)和所述第二光学测量系统(C)的主平面(y-z)与主光轴(y)垂直于用于所述细长物体(W)的所述引导装置(4a、4b)的纵向轴线(x)布置。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一照射装置(DP1)包括第一光源(DP2)和至少一个屏(DP3)。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二照射装置(C1)包括多个第二光源(C1a、C1b、C1c)，所述第二光源(C1a、C1b、C1c)具有不同的波长光谱，并且针对从所述物体(W)反射的光线的所述第二传感器阵列(C4)与所述第二照射装置(C1)关于x-z平面处于所述测量空间(DCPv)的同一侧。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，在所述第二光学测量系统(C)中执行顺序：驱动所述第二照射装置(C1)的所述第二光源(C1a、C1b、C1c)使得依次照射所述物体(W)并且因此按照所述第二照射装置(C1)的所述第二光源的波长光谱将图像依次投射到所述第二传感器阵列(C4)上，其中，所述第二传感器阵列(C4)连接于评估单元，所述评估单元针对通过不同波长光谱的第二光源进行照射期间所测量的强度并且用于后续确定所述物体(W)的颜色。

7.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述长通滤波器(C3)布置在所述主光轴(y)上。

8.根据权利要求1至7之一所述的装置，其特征在于，用于确定所述外径(Wdo)和用于确定所述物体(W)的颜色的所述光学测量系统被组合以形成用于确定所述物体(W)在所述测量空间(DCPv)内的位置的第三虚拟测量系统(P)。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第三虚拟测量系统(P)包括具有两个第三光源(P1a、P1b)的第三照射装置(P1)。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第三照射装置(P1)包括多个第三光源，所述多个第三光源各自具有不同的波长光谱，并且被设计为依次照射所述物体(W)并因此按照所述第三光源的波长光谱将图像依次投射到所述第二传感器阵列(C4)上。