[发明专利]光电装置和使用方法在审

专利信息
申请号: 201780025978.5 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN109417129A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: P·特雷弗纳斯三世;K·德什潘德;T·埃韦斯;E·格里尔;J·朱;金奉勋;欧纳瑞;J·A·罗杰斯;M·西姆;张洁倩 申请(专利权)人: 陶氏环球技术有限责任公司;罗门哈斯公司;伊利诺伊大学评议会;罗门哈斯电子材料有限责任公司
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;G01B11/02;G06F3/041;H01L51/50;G06F3/042
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 徐舒
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 光电元件 光电装置 光电流 发光 施加 反向偏压 正向偏压 反射光 散射光 散射 反射 相距 发射 检测
【权利要求书】:

1.一种在光电装置附近检测物体的存在的方法,其包括

(a)提供包括发光光电元件和光电流生成光电元件的光电装置,

其中所述装置被配置为使得所述发光光电元件发射的一些光离开所述光电装置,

其中所述装置被配置为使得所述发光光电元件发射的离开所述光电装置并被外部物体散射或反射的光可以撞击所述光电流生成光电元件,

(b)在所述发光光电元件上施加有效正向偏压并在所述光电流生成光电元件上施加有效反向偏压,

(c)使能够散射光或反射光或其组合的物体与所述光电装置的表面上的光出现的点相距0.1mm到5mm的距离,从而使所述发光光电元件发射的光被反射或散射成使得所述光落在所述光电流生成光电元件上。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述光电装置进一步包括不透明元件,所述不透明元件防止所述发光光电元件发射的光经由所述装置内的通路到达所述光电流生成光电元件。

3.根据权利要求1所述的方法,其中所述光电装置包括选自由量子点和纳米棒组成的组的材料。

4.根据权利要求1所述的方法,其中所述光电装置包括纳米棒。

5.根据权利要求1所述的方法,其中所述物体是铁笔或人体部位。

6.根据权利要求1所述的方法,其中所述物体是人类手指或人手的其它部位。

7.一种在光电装置附近检测物体的存在的方法,其包括

(a)将包括光电流生成光电元件的光电装置提供在源于所述光电装置外部的外部光落在所述光电装置上的环境中,

(b)在所述光电流生成光电元件上施加有效反向偏压,其中所述外部光具有适当的波长和足够的强度以使所述光电流生成光电元件生成光电流,以及

(c)使不透明物体与所述光电装置的表面上的点相距0.1mm到5mm的距离,从而使所述不透明物体阻挡足够的所述外部光以使所述光电流生成光电元件生成的所述光电流可检测地减少。

8.根据权利要求7所述的方法,其中所述光电装置包括选自由量子点和纳米棒组成的组的材料。

9.根据权利要求7所述的方法,其中所述光电装置包括纳米棒。

10.根据权利要求7所述的方法,其中所述物体是铁笔或人体部位。

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