[发明专利]使用多级DDR系统中的基于业务的自刷新来进行周期性ZQ校准有效
申请号: | 201780030333.0 | 申请日: | 2017-05-12 |
公开(公告)号: | CN109155139B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 王力永 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | G11C7/10 | 分类号: | G11C7/10;G11C29/02;G11C29/12;G11C11/406;G11C11/4093;G11C29/50;G06F13/16;H04L25/02;G11C29/44 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 多级 ddr 系统 中的 基于 业务 刷新 进行 周期性 zq 校准 | ||
1.一种用于存储器校准的方法,其包括:
调度ZQ校准短命令来根据ZQ间隔校准多级双数据速率DDR存储器系统;
响应于确定动态随机存取存储器DRAM级在所述ZQ间隔处于自刷新模式,记录多级DDR存储器系统中的所述DRAM级未命中所述ZQ校准短命令;以及
至少部分地基于在所述DRAM级处于所述自刷新模式时未命中的某一数目的ZQ校准短命令,在退出所述自刷新模式之后,调度ZQ命令来校准所述DRAM级。
2.根据权利要求1所述的方法,其中在退出所述自刷新模式之后调度所述ZQ命令来校准所述DRAM级包括:响应于未命中的ZQ校准短命令的所述数目低于第一阈值,在下一ZQ间隔中调度另一ZQ校准短命令。
3.根据权利要求1所述的方法,其中在退出所述自刷新模式之后调度所述ZQ命令来校准所述DRAM级包括:响应于未命中的ZQ校准命令的所述数目达到第一阈值,在下一ZQ间隔中调度ZQ校准长命令。
4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括:
响应于所述DRAM级在所述下一ZQ间隔之前退出所述自刷新模式,在所述下一ZQ间隔执行经调度的ZQ校准长命令;以及
响应于执行所述经调度的所述ZQ校准长命令而恢复正常ZQ行为,其中恢复所述正常ZQ行为包括调度ZQ校准短命令来根据所述ZQ间隔校准所述DRAM级。
5.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括:
响应于至少一个DRAM级在所述下一ZQ间隔之前不退出所述自刷新模式,记录所述DRAM级未命中所述ZQ校准长命令;以及
响应于确定所述DRAM级在处于所述自刷新模式时未命中的ZQ校准长命令的数目低于第二阈值,在下一ZQ间隔中调度另一ZQ校准长命令。
6.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括:
响应于至少一个DRAM级在所述下一ZQ间隔之前不退出所述自刷新模式,记录所述DRAM级未命中所述ZQ校准长命令;以及
响应于所述DRAM级在处于所述自刷新模式时未命中的ZQ校准长命令的数目达到第二阈值,在所述DRAM级退出所述自刷新模式后,即刻触发所述ZQ校准长命令,其中紧接在所述DRAM级退出所述自刷新模式之后且在存取所述多级DDR存储器系统的任何请求之前,执行所触发的ZQ校准长命令。
7.根据权利要求6所述的方法,其进一步包括跳过所执行的ZQ校准长命令之后的下一经调度的ZQ间隔。
8.根据权利要求1所述的方法,其中在先前ZQ校准完成之后,在所述DRAM级进入所述自刷新模式之前,调度所述ZQ命令来补偿电压和温度的变化。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述ZQ命令包括另一ZQ校准短命令或ZQ校准长命令。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述ZQ校准短命令在比ZQ校准长命令少的时钟循环中完成,且其中所述ZQ校准长命令补偿比所述ZQ校准短命令宽的电压和温度的变化。
11.一种用于存储器校准的设备,其包括:
双数据速率DDR存储器系统,其包括多个动态随机存取存储器DRAM级;以及
存储器控制器,其耦合到所述DDR存储器系统,其中所述存储器控制器经配置以:
调度ZQ校准短命令来根据ZQ间隔校准所述DDR存储器系统;
响应于确定DRAM级在所述ZQ间隔处于自刷新模式,记录所述DDR存储器系统中的所述多个动态随机存取存储器DRAM级之中的所述DRAM级未命中所述ZQ校准短命令;以及
至少部分地基于在所述DRAM级处于所述自刷新模式时未命中的某一数目的ZQ校准短命令,在退出所述自刷新模式之后,调度ZQ命令来校准所述DRAM级。
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