[发明专利]集成电路输入/输出引脚上的错误检测

权利要求书

1.一种用于由集成电路的微处理器来检测所述集成电路的输入/输出引脚上的错误的方法，所述集成电路的所述输入/输出引脚链接到输入节点，其中所述输入节点在输入模式中通过至少一个电阻器(R1，202、402)接收输入信号(Vin)并且其中所述输入节点通过第二电阻器(R2，204、404)连接到基准电压(Vref)并且通过第三电阻器(R3，206，R5，410)连接到零电压，所述方法包括：

通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，在输入模式中使用(S505，S605)所述集成电路的所述输入/输出引脚；以及

在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换(S510，S610，S810)所述输入/输出引脚，

其中所述测试模式包括：使用所述输入/输出引脚作为输出(S515，S615，S815)，所述输出在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与所述第一值不同的第二值(S620，S820)，在所述设置时间期间接收回(S520，S625)基于提供所述第二值的结果值，测量所述结果值(S630，S825)，以及基于所测量的所述结果值来标识所述集成电路的所述输入/输出引脚上的错误(S525，S635，S835)。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

输出脉冲，以提供所述第二值作为所述测试模式中在所述集成电路的输出处的输出脉冲值；

内部地读取所述输出脉冲，以通过获得所述输出脉冲值来接收回所述结果值；

测量所述输出脉冲值作为所测量的所述结果值；以及

将从所述输出读取的所述输出脉冲值与所述第二值进行比较，

其中标识的所述错误是基于所述比较被标识的。

3.根据权利要求1所述的方法，

其中在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚包括：在由模数转换器进行的转换之后，从来自所述输入/输出引脚的首先接收的模拟输入中读取所述第一值；

其中在所述测试模式中的所述切换包括：在接收到所述首先接收的模拟输入之后，在所述测试模式中第一次重新配置所述输入/输出引脚以用于数字输出；并且

其中所述提供包括：将所述第二值设置为数字输出值，以用于在所述设置时间期间来自在所述测试模式中被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚的输出；

其中所述方法还包括：

对在所述测试模式中被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚处的电容器充电或放电，以在所述设置时间期间在将所述第二值设置为所述数字输出值之后维持电压水平；

在所述设置时间期间在将所述第二值设置为所述数字输出值之后，在所述测试模式中第二次重新配置所述输入/输出引脚以再次用于模拟输入；

测量所述输入/输出引脚处的所述电压水平，以获得在由所述模数转换器进行的转换之后的所测量的所述结果值，以及

将从所述输入/输出引脚获得的所测量的所述结果值与所述第二值进行比较，

其中标识的所述错误是基于所述比较被标识的。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述集成电路包括用于控制发光二极管驱动电路的微控制器。

5.根据权利要求4所述的方法，

其中所述发光二极管驱动电路符合针对发光二极管的2类要求，并且

其中所述微控制器符合保险商试验所60730标准。

6.根据权利要求3所述的方法，

其中标识的所述错误指示模拟输入复用器寻址是错误的。

7.根据权利要求6所述的方法，还包括：

使用所述模数转换器，将所述首先接收的模拟输入和所测量的所述电压水平转换为数字输出；以及

将第一次被重新配置以用于数字输出的所述输入/输出引脚设置成高水平或低水平，

其中所述电容器连接到被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚，以在所述设置时间期间维持所述电压水平。