[发明专利]集成电路输入/输出引脚上的错误检测

说明书

一种用于检测集成电路的输入/输出(IO)引脚上的错误的方法，包括通过接收或发送作为模拟数据或数字数据的第一值来在第一模式中使用集成电路的输入/输出引脚。在第一模式中使用输入/输出引脚的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚。测试模式包括在第一模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值、在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值、测量结果值、以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。

技术领域

本公开涉及集成电路领域。更具体地，本公开涉及集成电路输入/输出引脚上的错误检测领域。

背景技术

集成电路包括处理器和微处理器(诸如微控制器)。微控制器具有引脚，其可能被卡住的，或者在例如模拟输入模式中可能被错误寻址。常规地，使用2个通道来检测卡住的引脚或错误寻址，以便调用保护。

US2002/0135391、US2008/0265262、US2011/0148429和US2011/0234105示出了使用反馈回路来监视输出值的不同方式。这种反馈环路是提供输出值的集成电路的一部分。

发明内容

本发明提供了一种在包括微处理器的集成电路的输入/输出引脚上进行引脚卡住检测的解决方案。集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点。输入节点通过至少一个电阻器来接收输入信号，并且通过第二电阻器连接到基准电压，并且通过第三电阻器连接到零伏。方法包括：

通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，来在输入模式中使用集成电路的所述输入/输出引脚；以及

在输入模式中使用输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚，

其中测试模式包括：使用输入/输出引脚作为输出，该输出在输入模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果，以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。

根据一个优选实施例，方法还包括：

-输出脉冲，以提供第二值作为测试模式中在集成电路的输出处的输出脉冲值；

-内部地读取输出脉冲，以通过获得输出脉冲值来接收回结果值；

-测量输出脉冲值作为测量的结果值；以及

-将从输出读取的输出脉冲值与第二值进行比较，

-其中标识的错误是基于比较被标识的。

根据另一方面，本发明涉及一种控制电路，其包括集成电路、第一电阻器、第二电阻器和第三电阻器。集成电路包括微处理器，微处理器可操作以执行用于检测集成电路的输入/输出引脚上的错误的指令，集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点。第一电阻器连接到输入节点并且接收输入信号。第二电阻器连接在基准电压与输入节点之间。第三电阻连接在零电压与输入节点之间。

优选地，控制电路可以包括将集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点的第四电阻器。控制电路可以包括与第三电阻器并联连接的电容器。

根据一个具体应用，控制电路位于发光二极管驱动电路的输出部中，发光二极管驱动电路具有主控制部和与主控制部隔离的输出部。

根据一个优选实施例，当由微处理器执行时，指令使发光二极管驱动电路执行包括以下项的过程：

-通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，来在输入模式中使用集成电路的输入/输出引脚；以及

-在第一模式中使用输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚，