[发明专利]陶瓷电路基板及半导体模块有效
申请号: | 201780042696.6 | 申请日: | 2017-07-14 |
公开(公告)号: | CN109417057B | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 那波隆之;加藤宽正;矢野圭一 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝高新材料公司 |
主分类号: | H01L23/13 | 分类号: | H01L23/13;C04B37/02;H01L23/15;H01L23/36;H05K1/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈建全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷 路基 半导体 模块 | ||
一种陶瓷电路基板,其具备:厚度为1.0mm以下的陶瓷基板,所述陶瓷基板具有第1面和第2面,第1面包含第1区域和第2区域;第1金属板,所述第1金属板与第1区域接合;和第2金属板,所述第2金属板与第2面接合。沿着第1面的第1边所测定的第2区域的第1波纹度曲线具有1个以下的极值。沿着第1面的第2边所测定的第2区域的第2波纹度曲线具有2个~3个极值。
技术领域
实施方式涉及陶瓷电路基板及半导体模块。
背景技术
近年来,伴随着产业设备的高性能化,其中搭载的功率模块的高输出化正在进展。伴随于此,半导体器件的高输出化在发展。半导体器件的动作保证温度例如为125℃~150℃。预测今后动作保证温度会上升至175℃以上。
伴随着半导体器件的动作保证温度的上升,要求陶瓷电路基板具有高热循环测试(TCT)特性。在TCT中,以低温→室温→高温→室温作为1个循环,测定陶瓷电路基板的耐久性。
公开了在钎料突出部没有空隙的陶瓷电路基板。就具有氮化硅基板的陶瓷电路基板而言,显示出具有5000个循环的耐久性。通过消除钎料突出部的空隙,能够改善TCT特性。然而,预测伴随着半导体器件的高性能化而动作保证温度会达到175℃以上。
另一方面,为了伴随着半导体器件的高性能化而增加通电容量(载流量),正在研究使用大的外部端子。已知使以往的外部端子的接合部的厚度为3mm以上。
外部端子有引线框、引脚等各种形状。为了增加通电容量,不使用接合线(bondingwire)那样的细线、而使用比较厚的引线框是有效的。然而,如果使用厚的引线框,则陶瓷电路基板有可能会发生大弯曲。如果陶瓷电路基板弯曲,则在安装到散热构件中时容易产生安装不良。另外,在对具有管脚(引线端子)的陶瓷电路基板进行高温状态的温度为175℃的TCT时,难以得到良好的特性。这是由于:引线框越厚,则对陶瓷电路基板施加的应力越高。因此,要求即使将厚的引线框与端子接合也不会弯曲、且具有良好的TCT特性的陶瓷电路基板。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2011/034075号
专利文献2:日本特开2004-134703号公报
发明内容
实施方式的陶瓷电路基板具备:厚度为1.0mm以下的陶瓷基板,所述陶瓷基板具有第1面和第2面,第1面包含第1区域和第2区域;第1金属板,所述第1金属板与第1区域接合;和第2金属板,所述第2金属板与第2面接合。沿着第1面的第1边所测定的第2区域的第1波纹度曲线具有1个以下的极值。沿着第1面的第2边所测定的第2区域的第2波纹度曲线具有2个~3个极值。
附图说明
图1是表示陶瓷电路基板的一个例子的俯视图。
图2是表示陶瓷电路基板的另一个例子的侧面图。
图3是表示波纹度曲线的一个例子的图。
图4是表示波纹度曲线的另一个例子的图。
图5是表示波纹度曲线的又一个例子的图。
图6是表示金属板的配置结构的一个例子的图。
图7是表示带管脚的陶瓷电路基板的一个例子的侧面图。
图8是表示半导体模块的一个例子的侧面图。
图9是表示金属板侧面和接合层的形状的一个例子的图。
具体实施方式
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