[发明专利]高性能超βNPN(SBNPN)有效
申请号: | 201780053253.7 | 申请日: | 2017-09-11 |
公开(公告)号: | CN109643654B | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | B·本纳;W·施瓦兹;B·G·斯图弗 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L29/72 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵志刚;赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 性能 npn sbnpn | ||
在所描述示例中,一种用于制造超βNPN(SBNPN)晶体管的方法包括:在P型外延层上沉积正硅酸乙酯(TEOS)层(1102);在TEOS层上沉积氮化物层(1102);通过选择性地蚀刻掉部分氮化物层和TEOS层来图案化SBNPN晶体管的发射极区域(1104);在氮化物层的顶部、沿着氮化物层和TEOS层的侧面以及在P型外延层的顶部上沉积第二TEOS层(1110);以及通过第二TEOS层利用N型离子注入P型外延层,以形成SBNPN晶体管的发射极区域(1114)。
背景技术
NPN晶体管具有围绕P型区域的两个N型区域。N型区域中的一个是集电极,P型区域是基极以及N型区域中的第二个是发射极。根据NPN晶体管的电压偏置方式,NPN晶体管将具有不同的操作模式。当发射极-基极结被反向偏置并且集电极-基极结被反向偏置时,NPN晶体管以截止模式操作。当发射极-基极结被正向偏置且集电极-基极结被反向偏置时,NPN晶体管以有源模式操作,以及当发射极-基极结被正向偏置且集电极-基极结被正向偏置时,NPN晶体管以饱和模式操作。当晶体管用作放大器时使用有源模式,以及当晶体管用作开关时使用截止模式和饱和模式。
NPN晶体管的一个参数是共发射极电流增益,其通常被称为β或HFE。当处于有源模式时,共发射极电流增益是集电极电流与基极电流的比率。对于示例NPN晶体管,共发射极电流增益可以在50到200的范围内。对于示例超βNPN(SBNPN)晶体管,共发射极电流增益可以是1,000或更大。
发明内容
所描述的示例包括一种用于制造SBNPN晶体管的方法,该方法包括在P型外延层上沉积正硅酸乙酯(TEOS)层,以及在TEOS层上沉积氮化物层。通过选择性地蚀刻掉部分氮化物层和TEOS层来图案化SBNPN晶体管的发射极区域。在氮化物层的顶部、沿着氮化物层和TEOS层的侧面以及在P型外延层的顶部上沉积第二TEOS层。通过第二TEOS层利用N型离子注入P型外延层,以形成SBNPN晶体管的发射极区域。
另一个示例包括一种用于制造SBNPN晶体管的方法,该方法包括在P型外延层上沉积屏蔽氧化物(screen oxide)层、第一TEOS层、氮化物层和第一光刻胶层。图案化第一光刻胶层以暴露SBNPN晶体管的发射极区域。蚀刻掉SBNPN晶体管的发射极区域中的屏蔽氧化物层、第一TEOS层和氮化物层。去除第一光刻胶层,并在SBNPN晶体管的发射极区域中的氮化物层上方和P型外延层上方沉积第二TEOS层。在氮化物层上沉积第二光刻胶层,并且图案化第二光刻胶层以暴露SBNPN晶体管的发射极注入区域。通过第二TEOS层注入P型外延层以形成SBNPN晶体管的发射极区域。
又一示例包括一种SBNPN晶体管,其包括基极、发射极和集电极。发射极包括在P型外延层顶部上的氮化物层和第一TEOS层。第二TEOS层沉积在氮化物层和第一TEOS层上。第二TEOS层在氮化物层和第一TEOS层的底切(undercut)区域中填充,并且第二TEOS层包括用于发射极注入步骤的同质屏蔽氧化物。
附图说明
图1示出了根据各种示例的SBNPN晶体管的横截面图。
图2示出了根据各种示例的SBNPN晶体管的俯视图。
图3-图10示出了根据各种示例制造的SBNPN晶体管的横截面图。
图11示出了根据各种示例的一种制造SBNPN晶体管的发射极区域的方法的工艺流程图。
具体实施方式
在本说明书中,术语“耦合(couple或couples)”表示间接或直接有线或无线连接。因此,如果第一设备耦合到第二设备,则该连接可以通过直接连接或通过经由其他设备和连接的间接连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德克萨斯仪器股份有限公司,未经德克萨斯仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780053253.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体装置
- 下一篇:场效应晶体管制造方法及场效应晶体管
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造