[发明专利]用于表征光源的方法和设备

权利要求书

1.一种用于表征光源(1)的方法，所述光源包括具有自由光谱范围的固定腔(2)，所述方法包括：

-在探索所述光源(1)的不同状态时由所述光源产生第一辐射(3)，所述光源(1)的不同状态通过所述光源(1)的、对所述光源(1)发射的第一辐射(3)的波长有影响的物理参数的差异来区分，

-由至少一个传感器(4)接收所述第一辐射的至少一部分，所述至少一个传感器包括Fabry-Perot标准具(5)，所述Fabry-Perot标准具(5)后接光电二极管(6)，

-针对所述光源的每个探索状态使用所述至少一个传感器测量信号，所述信号随由所述至少一个传感器在所述光源的该探索状态下接收的第一辐射的至少一部分变化，

-确定或记录常数(b)乘以固定腔的自由光谱范围的模，其中所述自由光谱范围以第一数据项的单位表示，所述第一数据项表示所述第一辐射的波长，和

-利用针对所述光源的每个探索状态由所述至少一个传感器测量的信号，计算表示所述第一辐射的波长的所述第一数据项，所述计算包括针对所述光源的每个探索状态选择第一数据项的值，并消除所述第一数据项的、不对应于所述常数(b)乘以固定腔的自由光谱范围的模的值，其中所述自由光谱范围以所述第一数据项的单位表示。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个传感器不包括光电二极管阵列。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个传感器的Fabry-Perot标准具不包括任何移动部件。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，表示所述第一辐射的波长的第一数据项是：

-所述第一辐射的波长，或

-所述第一辐射的频率，或

-所述第一辐射的波数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述选择还消除位于已知的第一辐射的光谱区域范围(15)之外的第一数据项的值。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，每个Fabry-Perot标准具都具有随所述第一辐射的波长变化的所述第一辐射的透射强度曲线(12、13、14)，其具有大于或等于所述已知的第一辐射的光谱区域范围的周期。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，接收所述第一辐射的至少一部分包括由几个传感器(4)接收，每个传感器包括Fabry-Perot标准具(5)，所述Fabry-Perot标准具(5)后接光电二极管(6)，并且每个Fabry-Perot标准具都具有随所述第一辐射的波长变化的所述第一辐射的透射强度曲线，不同Fabry-Perot标准具(5)的透射曲线一起形成了随所述第一辐射的波长变化的所述第一辐射的总透射强度曲线(16)，其具有大于或等于所述已知的第一辐射的光谱区域范围的周期。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个传感器包括几个传感器，所述几个传感器的不同Fabry-Perot标准具包括至少一对两个Fabry-Perot标准具，所述至少一对两个Fabry-Perot标准具包括：

-第一Fabry-Perot标准具，其具有随所述第一辐射的波长变化的所述第一辐射的第一透射强度曲线，以及

-第二Fabry-Perot标准具，其具有随所述第一辐射的波长变化的所述第一辐射的第二透射强度曲线，

使得：

-所述第一辐射(3)的同一波长对应于第一透射曲线(13)的最大斜率(130)和第二透射曲线(12)的、绝对值小于或等于该最大斜率(130)的10％的斜率(120)两者，和/或

-所述第一辐射(3)的同一波长对应于第二透射曲线(12)的最大斜率(121)和第一透射曲线(13)的、绝对值小于或等于该最大斜率(121)的10％的斜率(131)两者。