[发明专利]一种用于检测钻石标记的方法和系统

权利要求书

1.一种用于识别材料流中的部分析出的钻石的存在的方法，所述方法包括以下步骤：

利用多波长光束照射材料，所述多波长光束包括至少一个单色SWIR激光束和至少一个IR散射/反散射激光束；

在所述单色SWIR激光束被所述材料反射和/或散射之后，捕获所述至少一个单色SWIR激光束的一部分；

基于所捕获的所述至少一个单色SWIR激光束的一部分生成SWIR信号；

在所述至少一个IR散射/反散射激光束被所述材料散射并且被所述材料反射之后，捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束的第一部分；

从所述至少一个IR散射/反散射激光束已经被所述材料散射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的一部分中分离并此后捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束已经被所述材料反射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的反射部分；

基于所捕获的所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述第一部分生成IR散射信号；

基于所捕获的所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述反射部分生成IR反射信号；

基于所述SWIR信号、所述IR反射信号、以及所述IR散射信号的组合中的钻石标记的存在，将所述材料分类成包括钻石。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：将所述至少一个IR散射/反散射激光束已经被所述材料散射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的第一部分从所述至少一个IR散射/反散射激光束已经被所述材料反射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的一部分中分离，并且之后，捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述第一部分。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述至少一个IR散射/反散射激光束是至少一个单色IR散射/反散射激光束。

4.根据权利要求1或2所述的方法，还包括以下步骤：过滤具有与入射光束相同的偏振的光，从而仅捕获交叉偏振光。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其中，分离所述IR散射/反散射激光束的反射部分的步骤是通过对来自反射光的散射光进行光学过滤而完成的。

6.根据权利要求1或2所述的方法，还包括以下步骤：分裂所述IR散射/反散射激光束。

7.根据权利要求1或2所述的方法，还包括以下步骤：通过将所述SWIR信号和所述IR散射信号分别除以所述IR反射信号而将所述SWIR信号和所述IR散射信号归一化。

8.根据权利要求1或2所述的方法，还包括以下步骤：对所述材料流扫描所述多波长光束。

9.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述材料流包括至少一种具有部分析出的钻石的岩石颗粒。

10.根据权利要求7所述的方法，还包括：使用归一化的SWIR信号和归一化的IR散射信号形成二维空间用于表示所述材料。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，所述二维空间表示多种岩石颗粒。

12.根据权利要求10或11所述的方法，还包括：将所述二维空间内的像素分类成钻石或其他材料类别。

13.根据权利要求1或2所述的方法，还包括：从所述材料流的输送方向喷射包括被分类成钻石的材料的物质以用于分选工艺。

14.一种包含程序指令的计算机可读介质，所述程序指令在由处理器执行时使所述处理器执行根据权利要求1至13中任一项所述的方法。