[发明专利]一种用于检测钻石标记的方法和系统有效
申请号: | 201780065685.X | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN109863388B | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 杰弗里·哈罗德·马登松;马库斯·德勒 | 申请(专利权)人: | 陶朗分选有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/359 | 分类号: | G01N21/359;G01N21/85;B07C5/342;G01N33/38;G01N21/87 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁丽超 |
地址: | 德国米尔海*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 钻石 标记 方法 系统 | ||
本发明涉及一种用于识别材料流中的部分析出的钻石的存在的方法。
技术领域
本发明涉及一种钻石检测,例如,检测诸如角砾云橄岩等岩石颗粒流中的未析出的钻石。
背景技术
在钻石回收领域和提供钻石回收技术的时候观察到了未析出的钻石和部分析出的钻石的问题。未析出的钻石是那些仍附着至诸如角砾云橄岩及其他矿物等岩石产物/颗粒/砂砾的钻石。这些未析出的钻石可能在选矿过程中被错放,这可能是由于未析出的钻石的密度低于DMS旋风分离器的分选点并且随后被发送至尾矿,而导致未析出的钻石在重介质选矿DMS过程中被错放。
未析出的钻石在循环过程中也可能受到损坏/压坏或严重破坏,因为未析出的钻石未报告至工厂的回收工段,而是报告至粉碎工段并且随后由于材料的尺寸减小而被压碎、以通过转而损坏钻石的CSS。这给处理沉淀物的采矿公司和针对钻石的出售收各种税的政府造成可防止和不必要的经济损失。
现有技术中的钻石检测涉及激光束的激励和对由钻石的晶体结构散射的激光的测量。通过利用钻石在其晶体结构内散射光的性质和“照射”或“照亮”镜面反射周期的区域的效应,即使钻石仅部分析出并且仍附着至砂砾,仍可以使用这种性质和效应作为区分钻石与诸如角砾云橄岩及其他矿物等岩石产物或颗粒/砂砾的特征。该基本原理的缺点在于类似石英、一些方解石等其他传输的矿物也发生散射并且在分选工艺中可能被错放,从而导致产量更高。
其他现有技术文献描述了用于检测材料流中的目标材料的其他方法,诸如EP2392414中描述的方法等,该方法涉及利用具有预定光谱带宽的照明射材料流,所述预定的带宽在被检测的目标材料的光谱峰值的半最大值全宽度的附近;之后,捕获并且分析来自照明物质的反射及散射光。
因此,本发明的目标是提出一种改进否则被损坏或丢失的部分析出的钻石的回收的高速工艺。进一步的目标是改进钻石检测。进一步的目标是通过提供适合于各种各样的矿石类型的合适钻石回收技术而改进钻石价值管理。
本发明的目标是克服或缓解上述所述至少一个问题。通过独立权利要求中限定的方法实现了此目标。从从属权利要求及下列描述中导出了本发明的有利实施方式。
令人惊讶的是,发现使用至少一个单色SWIR激光束能够有利于以精确并且可靠的方式回收部分析出的钻石。由于通常通过采用被检测的目标材料的光谱峰值的半最大值全宽度选择照射光束的带宽,这种发现令人惊讶。其支撑的基本原理在于本领域技术人员了解到,为了实现对材料流中的钻石的检测的可靠性,需要一定的带宽。本领域技术人员了解到,使用较小的带宽导致方法产生丢失钻石的风险,出于各种原因,这些钻石可能与钻石检测器布置成检测的矿石具有略微不同的光谱峰值。
发明内容
根据本发明,提供一种用于识别材料流中的部分析出的钻石的存在的方法,所述方法包括以下步骤:
利用多波长光束照射材料,多波长光束包括至少一个单色SWIR激光束和至少一个IR散射/反散射激光束;
在所述单色SWIR激光束被材料反射和/或散射之后,捕获所述至少一个单色SWIR激光束的一部分;
基于所捕获的所述至少一个单色SWIR激光束的一部分生成SWIR信号;
在所述至少一个IR散射/反散射激光束被材料散射并且可选地被材料反射之后,捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束的第一部分;
从所述至少一个IR散射/反散射激光束被材料散射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的部分中分离并且之后捕获所述至少一个IR散射/反散射激光束被材料反射之后的所述至少一个IR散射/反散射激光束的反射部分;
基于所捕获的所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述第一部分生成IR散射信号;
基于所捕获的所述至少一个IR散射/反散射激光束的所述反射部分生成IR反射信号;
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