[发明专利]用于测取试样的动态特性的折射计和方法

权利要求书

1.折射计(2；102；202；302)，其包括：

-带有测量表面(4.1；104.1；204.1；304.1)的测量体(4；104；204；304)；

-由测量体(4；104；204；304)的测量表面(4.1；104.1；204.1；304.1)限定的、用于容纳试样(8；108；208；308)的测量室(6；106；206；306)；

-用于通过测量体(4；104；204；304)来测量试样(8；108；208；308)的折光率的光学测量装置(10；110；210；310)；

其特征在于，

测量室(6；106；206；306)设计成能够通过压强和/或力调制对试样(8；108；208；308)进行机械加载，以便在调制期间动态地测量试样的折光率n。

2.根据权利要求1所述的折射计(2；102；202；302)，其中，测量室(6；106；206；306)设计为，压强/力调制振荡地、优选按照周期函数进行。

3.根据权利要求1和2中任一项所述的折射计(2；102；202；302)，其中，测量室(6)能够气体密封地封闭，并且折射计(2)包括用于对测量室(6)中的气体的压强进行调制的压强控制装置(12)。

4.根据权利要求3所述的折射计(2)，其中，压强控制装置(12)包括将气体供应部(12.2)与测量室(6)相连的第一电控制阀(12.1)和将测量室(6)与环境相连的第二电控制阀(12.3)。

5.根据权利要求3和4中任一项所述的折射计(2)，其中，压强控制装置(12)包括用于对测量室(6)中的气体的压强进行调制的压强调节器。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的折射计(102)，其中，测量室(6)包括用于对试样(108)上的压强进行调制的超声波换能器(112)。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的折射计(202；302)，其中，测量室(206；306)包括力和/或进给控制装置(212；312)，所述力和/或进给控制装置带有冲头(212.1；312.1)和至少一个用于抵着试样(208；308)操控冲头(212.1；312.1)的促动器(212.3、312.3)。

8.根据权利要求7所述的折射计(202；302)，其中，至少一个促动器(212.3、312.3)电气、电磁、液压和/或气动地设计。

9.根据权利要求7和8中任一项所述的折射计(202；302)，其中，力和/或进给控制装置(212；312)包括用于测量由冲头(212.1；312.1)施加在试样(208；308)上的力的传感器(214；314.2)和用于测量冲头(212.1；312.1)的位移的传感器(214；314.1)。

10.根据权利要求7至9中任一项所述的折射计(202)，其中，力和/或进给控制装置(212；312)设计为，通过冲头(212.1)施加在试样(208)上的力不平行于冲头的纵轴线延伸。

11.根据权利要求7至9中任一项所述的折射计(302)，其中，力控制装置(312)设计为，通过冲头(312.1)施加在试样(308)上的力是围绕冲头的纵轴线旋转的。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的折射计(2；102；202；302)，其中，折射计包括评估单元(18；118；218；318)，所述评估单元设计为，所述评估单元基于在力和/或压强调制期间对折光率n的测量来确定试样(8；108；208；308)的可压缩性。