[发明专利]用于测取试样的动态特性的折射计和方法

说明书

本发明涉及折射计(2)和用于借助所述折射计测量试样的特性的方法，其中，所述折射计包括具有测量表面(4.1)的测量体(4)、由测量体(4)的测量表面(4.1)限定的、用于容纳试样(8)的测量室(6)和用于通过测量体(4)来测量试样(8)的折光率的光学测量装置(10)。所述测量室(6)设计成能够通过压强和/或力调制对试样(8)进行机械加载，以便在调制期间动态地测量试样的折光率n。

技术领域

本发明涉及对试样的动态特性进行测量的领域、尤其有关借助折射计测量折光率的领域。

背景技术

专利文献EP 2 266 693 A1公开了一种折射计，其具有壳体、布置在壳体中的测量池和盖单元，所述盖单元具有带有凹槽的基板和用于覆盖测量池的盖子，所述凹槽形成通向折射计的测量池的入口。盖子通过铰链与基板相连。盖单元此外还具有盖附件，所述盖附件可更换地布置在盖子中，并且盖单元通过与基板相连的连接元件可松脱地与壳体相连。可松脱的盖单元连同可更换的盖附件简化了对测量池的清洁，并且此外还能够调整测量池的条件，例如通过温度调节进行调整。测得的试样的数据是静态的并且局限于折光率。

专利文献WO 2012/025346A1涉及一种通过具有测量棱镜的折射计进行温度调制折光率测量。试样的折光率的复杂的温度系数基于折光率测量。在一段时间范围内测量试样的折光率，其中，关于时间对试样的温度进行调制，并且基于折光率测量和关于时间的温度调制计算折光率的复杂的温度系数。该教导仅涉及温度调制的折光率测量。

公开文献US 4,702,604涉及一种用于准确确定气态试样的可压缩性的方法和设备。两个光栅干涉仪耦合在一起，其中，一个干涉仪提供具有关于气体样本的折光率的信息的信号，并且另一个干涉仪提供具有关于气体样本的压强的信息的不同信号，由此能够以压强的函数实现对折光率的测量。然而这局限于气体而且需要复杂且昂贵的设备。

发明内容

技术任务

本发明所要解决的技术问题在于，克服上述现有技术中的至少一个弊端。本发明所要解决的技术问题尤其在于，通过简单的方式检测材料或试样的动态特性。

技术方案

本发明涉及一种折射计，该折射计包括具有测量表面的测量体；由测量体的测量表面限定的、用于容纳试样的测量室；用于通过测量体来测量试样的折光率的光学测量装置；其中,测量室设计成能够通过压强和/或力调制对试样进行机械加载，以便在调制期间动态地测量试样的折光率n。

测量体可以由优选在给定的波长范围内完全或部分透明的材料制成。

试样可以是固态的、凝胶状和/或膏状或液态的。

在压强和/或力调制期间还可以对试样的温度进行调制。

测量体可以是测量棱镜。

在另一种设计方式中，测量室设计为，压强和/或力调制振荡地、优选根据周期性函数进行。

在另一种设计方式中，测量室能够被气体密封地封闭，其中，折射计包括用于调制测量室中的气体的压强的压强控制装置。

在另一种设计方式中，压强控制装置包括将气体供应部与测量室相连的第一电控制阀和将测量室与环境相连的第二电控制阀。

在另一种设计方式中，压强控制装置包括用于调制测量室中的气体的压强的压强调节器。

在另一种设计方式中，测量室包括用于调制试样上的压强的超声波换能器。

在另一种设计方式中，测量室包括力和/或进给控制装置，所述力和/或进给控制装置带有冲头和至少一个用于相对于试样操控冲头的促动器。

在另一种设计方式中，促动器电气、电磁、液压和/气动地设计。