[发明专利]用于单分子定量的系统和方法

说明书

通过具有一个或多个处理器和存储器的电子装置来进行用于对基板上的标记进行定量的方法。所述方法包括：获得与所述基板上的多维测量相对应的数字数据；识别所述数字数据的子部分的第一集合；以及针对所述数字数据的子部分的第一集合中的各子部分：使标记的数量增加；以及从所述各子部分中减除参考信号分布以获得减除后的子部分数据。所述方法还包括获得减除后的数字数据。所述减除后的数字数据包括针对所述各子部分的减除后的子部分数据。所述方法还包括：识别所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合；以及针对所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合中的各子部分，使标记的数量增加。

技术领域

本申请一般涉及用于对标记进行定量的计算机系统和方法，更具体地涉及用于对单分子进行定量的计算机系统和方法。

背景技术

检测技术的最新进展已经实现了对单分子的检测。虽然检测单分子的能力已使得更好地理解个体分子的性质，但是以单分子准确度对多个分子进行定量仍然具有挑战性，尤其是在分子数量很大的情况下。

发明内容

因此，需要用于以改进的灵敏度对标记进行定量的改进的装置和方法。特别地，检测单分子的挑战之一出现在多个标记(或探针产物)彼此相邻定位的情况下，这使得难以辨别个体标记(或探针产物)以及/或者对其进行计数。所公开的装置和方法便于更准确地对标记(或探针产物)进行定量。这种装置和相关方法可选地补充或替代用于对标记进行定量的常规装置和方法。这种装置和方法提供了常规装置和方法不可获得的性能、准确度和灵敏度。

根据一些实施例，在具有一个或多个处理器和存储器的电子装置处进行一种用于对基板上的标记进行定量的方法。所述方法包括：获得与所述基板上的多维(例如，二维)测量相对应的数字数据；以及识别所述数字数据的子部分的第一集合。所述子部分的第一集合中的各子部分是整个数字数据的少于全部的子集，并且包括一个或多个标记的信号。所述方法还包括针对所述数字数据的子部分的第一集合中的各子部分，使标记的数量增加；以及从所述各子部分中减除参考信号分布以获得减除后的子部分数据。所述方法还包括获得减除后的数字数据。所述减除后的数字数据包括各子部分的减除后的子部分数据。所述方法包括识别所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合。所述一个或多个子部分的第二集合中的各子部分是整个数字数据的少于全部的子集，并且包括一个或多个标记的信号。所述方法包括针对所述减除后的数字数据的一个或多个子部分的第二集合中的各子部分，使标记的数量增加。

根据一些实施例，在具有一个或多个处理器和存储器的电子装置处进行一种用于对标记进行定量的方法。所述方法包括获得表示特定区域内的一个或多个标记在一段时间内的一系列强度值的数字数据。所述一个或多个标记的一系列强度值包括所述一个或多个标记在所述时间段内的各时间帧处的强度值。所述一个或多个标记的一系列强度值包括第一组强度值和第二组强度值。所述方法还包括：根据所述数字数据来确定表示所述第一组强度值的第一强度值以及表示所述第二组强度值的与所述第一强度值不同的第二强度值；以及基于至少所述第一强度值来对所述数字数据所表示的所述一个或多个标记的数量进行定量。

因此，为电子装置提供了更快、更有效的用于组成自动化规则的方法和接口，从而提高了这类装置的有效性、效率和用户满意度。

附图说明

为了更好地理解所描述的各个实施例，应当结合以下附图来参考以下具体实施方式，其中在整个附图中，相同的附图标记指代相应的部分。

图1描绘了根据一些实施例的基板上的探针产物。

图2描绘了根据一些实施例的示例性数字数据(例如，数字图像)。

图3A是示出根据一些实施例的电子装置的框图。

图3B是示出根据一些实施例的测量数据的框图。

图3C是示出根据一些实施例的时间序列数据的框图。

图3D是示出根据一些实施例的计数数据的框图。