[发明专利]靠近和/或接触的检测方法、电容性传感器和检测模块有效

专利信息
申请号: 201780073460.9 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN109983701B 公开(公告)日: 2023-06-20
发明(设计)人: G.施皮克;O.热拉尔迪耶;C.E.罗德里格斯 申请(专利权)人: 纬湃科技有限责任公司
主分类号: H03K17/955 分类号: H03K17/955
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘书航;刘春元
地址: 德国雷*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 靠近 接触 检测 方法 电容 传感器 模块
【权利要求书】:

1.一种检测在机动车辆(V)的门把手(P)附近的用户的手(M)的靠近和/或接触的检测方法,所述把手(P)包括:

·具有电容(Ce)的电极(40),以及

·用于测量所述电容(Ce)的变化的设备(60),

·位于电极(40)附近的低频天线(A),所述低频天线(A)的发射产生对用于测量电容变化的设备(60)的运转的干扰,

所述检测方法的特征在于根据在预定时间间隔(Δt(k-1))上计算的所述电容(Ce)的先前的测量值(Ni)的变化的平均值(SΔt(k-1))来计算用于检测靠近的新适应性阈值(Nth'Δtk),所述测量值(Ni)的变化被由如下的因子(W(Ni))加权:所述因子取决于在每一测量值(Ni)的变化与在先前的预定时间间隔(Δt(k-2))上先前所计算的变化的平均值(SΔt(k-2))之间的偏差,如果所述电容(Ce)的测量值(Ni)的变化大于新适应性阈值(Nth'Δtk),则验证对靠近的检测。

2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于以固定频率(f)来计算所述新适应性阈值(Nth’)。

3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于所述预定时间间隔(Δt(k-1))、以及先前的预定时间间隔(Δt(k-2))彼此具有相等的持续时间(Δt)。

4.一种用于检测用户的手朝向机动车辆(V)的门把手(P)的靠近和/或接触的电容性传感器(C),所述传感器(C)包括:

·具有电容(Ce)的电极(40),以及

·用于测量所述电容(Ce)的变化的设备(60),

·位于电极(40)附近的低频天线(A),所述低频天线(A)的发射产生对用于测量电容变化的设备(60)的运转的干扰,

所述传感器(C)的特征在于它此外包括:

·用于根据在一定时间间隔(Δt(k-1))上计算的所述电容(Ce)的测量值(Ni)的变化的平均值(SΔt(k-1))来计算用于检测靠近的新适应性阈值(Nth'Δtk)的部件(M1),所述测量值(Ni)的变化被由如下的因子(W(Ni))加权:所述因子取决于在每一测量值(Ni)的变化与在先前的预定时间间隔(Δt(k-2))上先前所计算的测量值的变化的平均值(SΔt(k-2))之间的偏差,

·用于在所述电容的变化与适应性阈值之间进行比较以便验证对靠近的检测的部件(M2)。

5.一种用于检测用户的手朝向机动车辆(V)的门把手(P)的靠近和/或接触的检测模块(D),所述检测模块(D)包括:

·电容性传感器(C),其包括:

-具有电容(Ce)的电极(40),以及

-用于测量所述电容(Ce)的变化的设备(60),以及

·位于电极(40)附近的低频天线(A),所述低频天线(A)的发射产生对用于测量电容变化的设备(60)的运转的干扰,

所述检测模块(D)的特征在于它此外包括:

·用于根据在一定时间间隔(Δt(k-1))上计算的所述电容(Ce)的测量值(Ni)的变化的平均值(SΔt(k-1))来计算用于检测靠近的新适应性阈值(Nth'Δtk)的部件(M1),所述测量值(Ni)的变化被由如下的因子(W(Ni))加权:所述因子取决于在每一测量值(Ni)的变化与在先前的预定时间间隔(Δt(k-2))上先前所计算的测量值的变化的平均值(SΔt(k-2))之间的偏差,

·用于在所述电容的变化与适应性阈值之间进行比较以便验证对靠近的检测的部件(M2)。

6.根据权利要求5所述的检测模块(D),其特征在于用于计算的部件(M1)与用于比较的部件是采用被集成在微控制器(80)中的软件的形式呈现的。

7.一种机动车辆(V),其特征在于它包括根据权利要求5或6所述的检测模块(D)或根据权利要求4所述的传感器。

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