[发明专利]自动分析装置

权利要求书

1.一种自动分析装置，其特征在于，具备：

光源，其产生中心波长为340nm以下的光；

荧光体，其被上述光源的光激励而发光，且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm～800nm的光；

聚光透镜；

至少一个狭缝；

反应池，其保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射；以及

检测器，其对透过上述反应池的光进行检测，

上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置，

上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下，

上述狭缝包括第一狭缝及第二狭缝，并且

上述第一狭缝配置于上述聚光透镜的前侧焦点与上述荧光体之间，上述第二狭缝配置于上述聚光透镜的后侧焦点与上述反应池之间。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

上述光源通过放入有上述荧光体的树脂而被密封。

3.根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，

还具备保持部件，该保持部件保持被上述树脂密封的上述光源和上述第一狭缝，

上述第一狭缝配置成与上述树脂相接。

4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

还具备含有上述荧光体的部件，

含有上述荧光体的上述部件为放入有上述荧光体的树脂或涂布有上述荧光体的玻璃，且配置于上述光源的光轴上。

5.根据权利要求4所述的自动分析装置，其特征在于，

还具备保持部件，该保持部件保持含有上述荧光体的上述部件和上述光源，

含有上述荧光体的上述部件和上述光源构成为能够分别从上述保持部件分离。

6.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，

上述保持部件还保持上述第一狭缝，

上述第一狭缝配置成与含有上述荧光体的上述部件相接。

7.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

上述光源为发光二极管，

还具备恒温部，该恒温部将上述光源冷却及恒温化至25℃以下。

8.根据权利要求7所述的自动分析装置，其特征在于，

上述恒温部包括帕尔帖元件。