[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201780077706.X | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN110073200B | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | 石田猛;山崎功夫;足立作一郎;今村伸 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01J3/10;G01N21/27;G01N21/59;G01N35/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;金成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
自动分析装置具备:产生中心波长为340nm以下的光的光源;被上述光源的光激励而发光,且与上述光源的透射光结合而产生波长340nm~800nm的光的荧光体;聚光透镜;至少一个狭缝;保持试样和试剂混合而成的反应溶液且供来自上述光源的光和来自上述荧光体的光入射的反应池;以及对透过上述反应池的光进行检测的检测器,上述光源、上述荧光体、上述聚光透镜以及上述狭缝沿与光轴一致的直线配置,上述狭缝的开口部的宽度为上述狭缝的位置处的形成上述光源的像的光线的宽度以下。
技术领域
本发明涉及自动分析装置。
背景技术
专利文献1记载了对试样含有的成分量进行分析的自动分析装置。例如,自动分析装置向试样、或试样和试剂混合而成的反应溶液照射来自光源的光,并利用受光元件测量通过试样或反应溶液后的单一或多个测量波长的透射光量。然后,自动分析装置根据测量出的光量计算吸光度,根据吸光度与浓度的关系求出成分量。自动分析装置中,为了对应多个检查项目,需要多个测量波长。另外,为了实现高精度的测量,在全部的波长中,需要能够稳定测量一定以上的光量。
对每个成为测量对象的成分使用的光的波长不同,但其范围为340nm~800nm。一直以来,作为光源,使用可得到大量光量且发光光谱宽的卤素灯。但是,卤素灯的寿命短(约1000小时),更换频率高。另外,卤素灯在其光量稳定前耗费30分钟左右,因此易用性降低。
作为卤素灯的代替光源,可以列举使用了多个与分析使用的波长对应的单一波长的LED的结构。在专利文献2中,记载了沿同一轴照射来自包括紫外LED的多个LED的光的光源结构。
另外,在专利文献3~5中记载了通过滤光片等对来自卤素灯等白色光源的光和来自紫外LED的紫外光进行合成的结构。卤素灯的紫外光、尤其是在自动分析装置中重要度高的340nm附近的光量少,因此紫外光的波长的光通过滤光片等合成。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:美国专利第4451433号说明书
专利文献2:国际公开2010/012203号
专利文献3:日本特开2008-002849号公报
专利文献4:日本专利第5260903号
专利文献5:日本特开2016-040528号公报
发明内容
发明所要解决的课题
根据测量对象不同,使用的试剂不同,根据试剂不同,使用的光的波长不同。作为测量法,具有称为双波长测量法的方法,即,通过同时测量两个波长的光,高精度地对测量对象的浓度进行定量。在这样的测量法中,以各波长的光相对于反应溶液,光轴和光量分布一致为前提,在它们不一致的情况下,得不到双波长测量法的原本的效果。例如,在使用光轴或光量分布不一致的两个波长的光进行双波长测量法的情况下,与它们一致的情况相比,容易受气泡等干扰的影响,精度或准确度降低。
在欲使用专利文献2~5的光源作为卤素灯的替代来实施双波长测量法的情况下,相对于反应溶液,来自多个光源的光的光轴及光量分布的差异增大,存在精度或准确度降低的可能性。在专利文献2~5的技术中,具有难以缩小来自多个光源的光的光轴及光量分布的差异的课题。
因此,本发明提供一种自动分析装置,关于测量使用的各波长的光,能够缩小光轴及光量分布的差异。
用于解决课题的方案
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