[发明专利]气体检测装置和气体检测方法有效
申请号: | 201780082478.5 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN110178022B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 古冈谦一;大森亚希子 | 申请(专利权)人: | 费加罗技研株式会社 |
主分类号: | G01N27/12 | 分类号: | G01N27/12 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝;陈林 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 检测 装置 方法 | ||
1.一种气体检测装置,其包括:
MEMS气体传感器,具有电阻值因气体而变化的金属氧化物半导体的膜和加热器;以及
驱动电路,通过间歇地向所述加热器施加电力,来间歇地将所述金属氧化物半导体加热到工作温度,并且,对工作温度下金属氧化物半导体的电阻值进行取样,
该气体检测装置的特征在于,
所述气体检测装置构成为组装于便携式电子设备,并且,
当通过所述便携式电子设备的传感器检测出所述便携式电子设备被放置于封闭场所时,所述驱动电路停止针对所述金属氧化物半导体向工作温度的加热,
当通过所述便携式电子设备的传感器检测出所述便携式电子设备已从封闭场所被取出时,所述驱动电路重新开始针对所述金属氧化物半导体向工作温度的加热。
2.如权利要求1所述的气体检测装置,其特征在于,
所述便携式电子设备的传感器为照度传感器或接近传感器。
3.如权利要求1或2所述的气体检测装置,其特征在于,
所述驱动电路构成为:当在规定的周期将金属氧化物半导体向工作温度加热,且所述便携式电子设备的传感器检测出所述便携式电子设备被放置于封闭场所中经过了多个周期时,停止针对所述金属氧化物半导体向工作温度的加热。
4.如权利要求1所述的气体检测装置,其特征在于,
所述驱动电路构成为:当重新开始针对所述金属氧化物半导体向工作温度的加热时,对所述金属氧化物半导体进行热清洗。
5.如权利要求4所述的气体检测装置,其特征在于,
所述驱动电路构成为:计算停止加热所述金属氧化物半导体的时间段,并根据计算的所述时间段来变更热清洗的条件。
6.一种气体检测方法,使用具有电阻值因气体而变化的金属氧化物半导体的膜和加热器的MEMS气体传感器,
通过气体检测装置的驱动电路间歇地向所述加热器施加电力,来间歇地将所述金属氧化物半导体向工作温度加热,并且,对工作温度下金属氧化物半导体的电阻值进行取样,
并且,所述气体传感器和所述驱动电路组装于便携式电子设备,
该气体检测方法的特征在于,
当所述便携式电子设备的传感器检测出所述便携式电子设备被放置于封闭场所时,所述驱动电路停止针对所述金属氧化物半导体向工作温度的加热,
当所述便携式电子设备的传感器检测出所述便携式电子设备已从封闭场所被取出时,所述驱动电路重新开始针对所述金属氧化物半导体向工作温度的加热。
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