[发明专利]具有用于粒子计数的动态分配内存的辐射检测器有效
申请号: | 201780083662.1 | 申请日: | 2017-01-23 |
公开(公告)号: | CN110178053B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 曹培炎;刘雨润 | 申请(专利权)人: | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 孙媛 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 用于 粒子 计数 动态分配 内存 辐射 检测器 | ||
1.一种辐射检测器,其特征在于,包括:
辐射吸收层,该辐射吸收层配置成吸收辐射;
多个计数器,所述多个计数器中的每个计数器与仓关联,并且配置成对所述辐射吸收层所吸收的辐射粒子数目计数,其中所述粒子的能量落在所述仓中;
内存,该内存包括多个单元;
处理器,该处理器配置成对所述计数器分配所述单元,
其中,所述处理器配置成基于所述计数器中所记录粒子的至少一个数目或者所述计数器中所记录粒子的至少一个数目的变化率对所述计数器分配所述单元。
2.根据权利要求1所述的辐射检测器,其中,所述处理器配置成释放所述单元。
3.根据权利要求2所述的辐射检测器,其中,所述处理器配置成基于所述计数器中所记录粒子的至少一个数目对所述计数器释放所述单元。
4.根据权利要求2所述的辐射检测器,其中,所述处理器配置成基于所述计数器中所记录粒子的至少一个数目的变化率对所述计数器释放所述单元。
5.根据权利要求1所述的辐射检测器,其中,所述辐射是X射线。
6.根据权利要求1所述的辐射检测器,该辐射检测器进一步包括:
控制器;
其中,所述控制器配置成确定所述辐射的粒子能量是否落入所述仓内;
其中,所述控制器配置成促使与所述仓关联的计数器记录的数目增加一。
7.根据权利要求6所述的辐射检测器,该辐射检测器进一步包括:
第一电压比较器,该第一电压比较器配置成将所述辐射吸收层的电触点的电压与第一阈值比较;
第二电压比较器,该第二电压比较器配置成将所述电压与第二阈值比较;
控制器,该控制器配置成从所述第一电压比较器确定所述电压的绝对值大于等于所述第一阈值的绝对值的时刻起启动时间延迟。
8.根据权利要求7所述的辐射检测器,其中,所述控制器配置成在所述时间延迟开始或终止时启动所述第二电压比较器。
9.根据权利要求7所述的辐射检测器,该辐射检测器进一步包括电压表,其中,所述控制器配置成在所述时间延迟终止时促使所述电压表测量所述电压。
10.根据权利要求9所述的辐射检测器,其中,所述控制器配置成基于在所述时间延迟终止时测量的电压值确定所述能量。
11.根据权利要求7所述的辐射检测器,该辐射检测器进一步包括电连接到所述电触点的电容器模组,其中,所述电容器模组配置成从所述电触点收集载流子。
12.根据权利要求7所述的辐射检测器,其中,所述控制器配置成使所述电触点连接到电接地。
13.根据权利要求7所述的辐射检测器,其中,所述电压变化率在所述时间延迟终止时大致为零。
14.根据权利要求1所述的辐射检测器,其中,所述辐射吸收层包括二极管。
15.根据权利要求1所述的辐射检测器,其中,所述辐射吸收层包括硅、锗、GaAs、CdTe、CdZnTe或其组合。
16.根据权利要求1所述的辐射检测器,其中,所述辐射检测器不包括闪烁体。
17.一种检测系统,其特征在于,包括根据权利要求1-16中任一项所述的辐射检测器和X射线源,其中,所述系统配置成对人的胸部或腹部进行X射线放射摄影。
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