[发明专利]具有用于粒子计数的动态分配内存的辐射检测器

说明书

本文公开了一种辐射检测器，包括：辐射吸收层，其配置成吸收辐射；多个计数器，每个计数器与仓关联并且配置成对检测器所吸收的辐射粒子数目计数；内存，其包括多个单元，其可以动态地被分配给计数器。

【技术领域】

本公开文涉及配置成在辐射检测器中动态地分配内存以进行粒子计数的方法和装置，所述辐射检测器例如为X射线检测器等。

【背景技术】

辐射检测器是测量辐射性质的设备。该性质的示例可以包括辐射的强度、相位和极化的空间分布。辐射可以是与受检者交互的辐射。例如，辐射检测器测量的辐射可以是穿过受检者或从受检者反射的辐射。辐射可以是电磁辐射，例如红外光、可见光、紫外光、X射线或γ射线。

一种类型的辐射检测器基于辐射与半导体之间的交互。例如，这种辐射检测器可以包括半导体层，该半导体层吸收辐射，然后产生数目与辐射能量成比例的载流子(例如，电子和空穴)。这些载流子由电路收集并计数以确定辐射能量，并且对下一个入射辐射重复该过程。通过对所检测的辐射的数目计数，可以将光谱编译为其能量的函数。因为必须在检测器准备下一个检测之前收集由辐射产生的载流子，因此这些检测器的速度受到限制。

【发明内容】

本发明公开了一种辐射检测器，包括：辐射吸收层，其配置成吸收辐射；多个计数器，每个计数器与仓关联并且配置成记录辐射吸收层所吸收的辐射粒子数目，其中粒子的能量落在仓中；内存，其包括多个单元；处理器，其配置成对计数器分配单元。

根据实施例，处理器配置成基于计数器中所记录粒子的至少一个数目对计数器分配单元。

根据实施例，处理器配置成基于计数器中所记录粒子的至少一个数目的变化率对计数器分配单元。

根据实施例，处理器配置成释放单元。

根据实施例，处理器配置成基于计数器中所记录粒子的至少一个数目对计数器释放单元。

根据实施例，处理器配置成基于计数器中所记录粒子的至少一个数目的变化率对计数器释放单元。

根据实施例，辐射是X射线。

根据实施例，辐射检测器进一步包括控制器，其中该控制器配置成确定辐射粒子的能量是否落入仓内；并且其中控制器配置成促使与仓关联的计数器记录的数目增加一。

根据实施例，辐射检测器进一步包括：第一电压比较器，其配置成将辐射吸收层的电触点的电压与第一阈值比较；第二电压比较器，其配置成将该电压与第二阈值比较；控制器，其配置成从第一电压比较器确定电压的绝对值大于等于第一阈值的绝对值的时刻起启动时间延迟。

根据实施例，控制器配置成在时间延迟开始或终止时启动第二电压比较器。

根据实施例，辐射检测器进一步包括电压表，其中控制器配置成在时间延迟终止时促使电压表测量电压。

根据实施例，控制器配置成基于在时间延迟终止时测量的电压值确定粒子能量。

根据实施例，检测器包括电容器模组，该电容器模组电连接到电触点，其中该电容器模组配置成从电触点收集载流子。

根据实施例，控制器配置成使电极连接到电接地。

根据实施例，电压变化率在时间延迟终止时大致为零。

根据实施例，电压变化率在时间延迟终止时大致为非零。

根据实施例，辐射吸收层包括二极管。

根据实施例，辐射吸收层包括硅、锗、砷化镓、碲化镉、碲锌镉或其组合。

根据实施例，辐射检测器不包括闪烁体。

根据实施例，辐射检测器包括像素阵列。