[发明专利]分光光度计有效
申请号: | 201780088686.6 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN110494721B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 渡边真人;军司昌秀 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01J3/36 | 分类号: | G01J3/36;G01N21/17;G01N21/27 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 光度计 | ||
1.一种作为液相色谱仪用检测器的分光光度计,该分光光度计具备:
光源;
流动池,配置在来自所述光源的光的光路上,供试样流动;
分光器,对经过所述流动池的光按照波长成分进行分光;
光电二极管阵列,被配置为对入射光的光量进行检测的多个光电二极管向一个方向排列,使得由所述分光器分光后的各个波长成分的光分别入射至所述各个光电二极管的受光面;
透光性保护板,对所述光电二极管阵列的受光面进行保护,
其特征在于,
所述分光器与所述光电二极管阵列的位置关系被设定为,在构成所述光电二极管阵列的所述光电二极管中至少对具有200nm~300nm之间的波长的光进行接收的所述光电二极管的受光面反射的光的反射位置、与该反射光在所述保护板再次反射并入射至该光电二极管阵列的所述受光面时的入射位置之间的距离,为构成该光电二极管阵列的1个光电二极管的宽度尺寸以下或者该分光光度计的最小光谱分辨率以下。
2.如权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
所述分光器与所述光电二极管阵列的位置关系被设定为,使由所述分光器分光后的光中具有200nm~300nm之间的规定的波长的光的光轴相对于所述一个方向正交。
3.如权利要求2所述的分光光度计,其特征在于,
所述规定的波长为250nm。
4.如权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
所述分光器与所述光电二极管阵列的位置关系被设定为,使得由所述分光器分光后的光的光轴相对于和所述光电二极管阵列的受光面的平面内的所述一个方向正交的方向倾斜,从而使在所述光电二极管阵列的所述受光面反射的光偏离所述分光器。
5.如权利要求1所述的分光光度计,其特征在于,
在所述光电二极管的所述受光面、所述保护板的所述光电二极管侧表面以及所述保护板的与所述光电二极管相反侧的表面中的至少1个面,设置有降低反射率的反射防止膜。
6.如权利要求1~5的任一项所述的分光光度计,其特征在于,
还具备入口狭缝,设置在向所述分光器入射的光的光路上,
所述入口狭缝与所述分光器的位置关系被设定为,使得在所述入口狭缝被反射的来自所述分光器的光偏离所述分光器。
7.一种作为液相色谱仪用检测器的分光光度计,该分光光度计具备:
光源;
流动池,配置在来自所述光源的光的光路上,供试样流动;
分光器,对经过所述流动池的光按照波长成分进行分光;
光电二极管阵列,被配置为对入射光的光量进行检测的多个光电二极管向一个方向排列,使得由所述分光器分光后的各个波长成分的光分别入射至所述各个光电二极管的受光面;
透光性保护板,对所述光电二极管阵列的受光面进行保护,
其特征在于,
所述分光器与所述光电二极管阵列的位置关系被设定为,使由所述分光器分光后的光中具有200nm~300nm之间的规定的波长的光的光轴相对于所述一个方向正交。
8.如权利要求7所述的分光光度计,其特征在于,
还具备入口狭缝,设置在向所述分光器入射的光的光路上,
所述入口狭缝与所述分光器的位置关系被设定为,使得在所述入口狭缝被反射的来自所述分光器的光偏离所述分光器。
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