[发明专利]分光光度计有效

专利信息
申请号: 201780088686.6 申请日: 2017-04-20
公开(公告)号: CN110494721B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 渡边真人;军司昌秀 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01J3/36 分类号: G01J3/36;G01N21/17;G01N21/27
代理公司: 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 代理人: 杨楷;毛立群
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 分光 光度计
【说明书】:

本发明的分光光度计中,分光器与PDA的位置关系被设定为,使得在构成PDA的PD中至少对具有200nm~300nm之间的波长的光进行接收的PD的受光面反射的光的反射位置、与该反射光在所述保护板被再次反射并入射至该PDA的受光面时的其入射位置之间的距离为构成所述PDA的1个PD的宽度尺寸以下。

技术领域

本发明涉及分光光度计,使用分光器对来自流动池的光按照波长成分进行分光,使用光电二极管阵列(以下称PDA)对分光后的光按照波长成分进行检测。

背景技术

作为液相色谱仪用的检测器,已知有PDA分光光度计。PDA分光光度计对供含有试样的溶液流通的流动池照射来自光源的光,通过衍射光栅、棱镜等分光器对透过流动池的光或者在流动池反射(或者折射)的光按照波长成分进行分光并引导至PDA。PDA中设置有用于对由分光器分光的各个波长成分的光进行接收的多个光电二极管(以下称为PD),通过各个PD同时对各波长成分的光进行检测,从而可以对经过流动池的光的波长光谱进行检测(参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利特开2014-048176号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

上述分光光度计存在以下问题:由分光器分光后入射至PDA的光的一部分反射,该反射光的一部分在保护PDA的受光面的保护板、分光器等再次反射,从而作为杂散光再次入射至PDA并被检测出。杂散光是指入射至与本来应该检测出该光的PD不同的PD的光。这样的杂散光是造成检测灵敏度降低、直线性恶化的原因。

本发明鉴于上述情况而完成,其目的在于降低由在PDA的受光面反射的光的再次反射而对检测造成的影响。

用于解决上述技术问题的方案

本发明的第1分光光度计是作为液相色谱仪用检测器的分光光度计,具备:光源;流动池,配置在来自所述光源的光的光路上,供试样流通;分光器,对经过所述流动池的光按照波长成分进行分光;PDA,被配置为对入射光的光量进行检测的多个PD向一个方向排列,使得由所述分光器分光后的各个波长成分的光分别入射至所述各个PD的受光面;透光性保护板,对所述PDA的受光面进行保护。该分光光度计的所述分光器与所述PDA之间的位置关系被设定为,使得在构成所述PDA的PD中至少对具有200nm~300nm之间的波长的光进行接收的PD的受光面反射的光的反射位置、与其反射光在所述保护板再次反射并入射至该PDA的所述受光面时的入射位置之间的距离,为构成该PDA的1个PD的宽度尺寸以下或者在该分光光度计的最小光谱分辨率以下。

即,本发明的第1分光光度计被设计为,在液相色谱仪最为常用的200nm~300nm之间的波长范围内杂散光量变得最少。在使用PDA的一般的分光光度计中,设计为可以在广泛的波长范围(例如190nm~800nm)内高精度地进行检测。但是,在这样设计的分光光度计中,在液相色谱仪最为常用的200nm~300nm的波长范围内,无法充分地排除在保护板再次反射的光造成的杂散光的影响。若杂散光量较多,则例如试样成分的吸光度变大时入射至PDA的杂散光比例会变大,检测精度(直线性)下降。结果,存在光谱形状变形,根据情况不同峰波长也改变的问题。

在本发明的第1分光光度计中,设计为在液相色谱仪最为常用的200nm~300nm之间的波长范围内,在PDA的受光面的反射位置(第1次的入射位置)与在该反射光的再次入射位置(第2次的入射位置)之间的偏移宽度为1个PD的宽度尺寸以下或在该分光光度计的最小光谱分辨率以下,因此在该波长范围内光相对于PDA的第1次与第2次的入射位置变得容易位于用于对相同波长范围的光进行检测的PD的范围内,在该波长范围内的杂散光量变少。

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