[发明专利]由非电阻热源加热的发射率受控面有效

专利信息
申请号: 201780089882.5 申请日: 2017-04-21
公开(公告)号: CN110582693B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: J·P·亚斯贝克;T·霍延;D·索里亚诺富萨斯;A·维斯;A·H·巴恩斯 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10;G01J5/06;G01K15/00;B29C64/295
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 佘鹏;王丽辉
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电阻 热源 加热 发射 受控
【权利要求书】:

1.一种发射器,包括:

晶体管;

具有受控的长波红外发射率的导热面,其中,所述导热面与所述晶体管热接触;

温度检测器,其定位成检测所述导热面的温度;

印刷电路板,其定位成支撑所述晶体管和所述温度检测器;以及

位于所述导热面和所述印刷电路板之间的导热接合部,其中,所述导热接合部是不导电的。

2.如权利要求1所述的发射器,其特征在于,所述导热面包括铝板,所述铝板已涂覆有具有已知发射率的材料层。

3.如权利要求1所述的发射器,其特征在于,所述受控的长波红外发射率在所述导热面的整个表面上扩散且均匀。

4.如权利要求1所述的发射器,还包括:

间隔件,其定位成将所述导热面平坦地保持在所述印刷电路板上方。

5.如权利要求1所述的发射器,其特征在于,所述发射器被部署在三维打印机内。

6.一种用于验证非接触式热测量装置的方法,包括:

基于对发射器面的温度的测量,来确定描述由具有已知发射率的所述发射器面发出的热的预期值;

在确定所述预期值之前,使用晶体管将所述发射器面加热至设定点;

将所述非接触式热测量装置所得到的测量结果与所述预期值进行比较;以及

基于所述比较,来确定所述非接触式热测量装置是否正常运作,

其中,所述预期值通过查阅查找表来确定,并且

其中,所述查找表中的条目标识了所述发射器面在不同的温度下所发出的热的值。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定所述非接触式热测量装置是否正常运作包括:

断定当非接触式热测量装置所得到的测量结果在所述预期值的预定方差之内时,所述非接触式热测量装置正常运作。

8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述确定所述非接触式热测量装置是否正常运作包括:

断定当非接触式热测量装置所得到的测量结果不在所述预期值的预定方差之内时,所述非接触式热测量装置未正常运作。

9.一种非暂时性机器可读存储介质,其编码有可通过处理器执行的指令,所述机器可读存储介质包括:

基于对发射器面的温度的测量来确定描述由具有已知发射率的所述发射器面发出的热的预期值的指令;

在确定所述预期值之前,使用晶体管将所述发射器面加热至设定点的指令;

将非接触式热测量装置所得到的测量结果与所述预期值进行比较的指令;以及

基于所述比较来确定所述非接触式热测量装置是否正常运作的指令,

其中,所述预期值通过查阅查找表来确定,并且

其中,所述查找表中的条目标识了所述发射器面在不同的温度下所发出的热的值。

10.如权利要求9所述的非暂时性机器可读存储介质,其特征在于,确定所述非接触式热测量装置是否正常运作的所述指令包括:

断定当非接触式热测量装置所得到的测量结果在所述预期值的预定方差之内时所述非接触式热测量装置正常运作的指令。

11.如权利要求9所述的非暂时性机器可读存储介质,其特征在于,确定所述非接触式热测量装置是否正常运作的所述指令包括:

断定当非接触式热测量装置所得到的测量结果不在所述预期值的预定方差之内时所述非接触式热测量装置未正常运作的指令。

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