[发明专利]一种硬盘处理方法及电子设备有效
申请号: | 201810001220.4 | 申请日: | 2018-01-02 |
公开(公告)号: | CN108182126B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 杨安荣 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬盘 处理 方法 电子设备 | ||
1.一种硬盘处理方法,应用于固态硬盘SSD,其特征在于,包括:
当检测到所述固态硬盘中有固态硬盘存储单元出现故障时,确定出现故障的所述固态硬盘存储单元的数量;
根据所述出现故障的固态硬盘存储单元的数量确定校验单元的数量;
生成校验单元,包括:确定数据存储单元中数据块的长度,根据数据块的长度确定校验信息,将所述校验信息存储至存储单元,生成所述校验信息时,将每一个数据块,即第一级数据块分成多个大小相同的第一级子数据块,将每一个所述第一级子数据块分成多个第二级子数据块,若数据的长度与生成校验信息的数据的个数的倍数不匹配,所述数据的长度为条带中每个所述数据块的大小,则确定所述第二级子数据块的两个不同长度值,两个不同长度值包括:第一长度及第二长度,比较所述第一长度及所述第二长度的大小,当所述第一长度大于所述第二长度时,确定所述第二长度的数值为所述数据块的个数,根据所述数据块的个数、第一长度及第二长度确定校验信息;
从所述固态硬盘中未出现故障的存储单元中读取数据存储单元和校验单元;
根据所述校验单元及所述数据存储单元中的数据,确定所述出现故障的固态硬盘存储单元中的数据。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,生成校验单元,包括:
确定通道数量,根据所述通道数量确定校验信息,将所述校验信息存储至存储单元。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定通道数量,根据所述通道数量确定校验信息,包括:
确定通道数量与数据长度是否符合预定关系,所述预定关系包括:所述通道数量小于数据块的长度,所述数据长度为所述数据块长度的倍数;
若是,根据所述数据块的长度确定校验信息。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述数据块的长度确定校验信息,包括:
确定所述通道数量比所述数据块长度小的数值为第一数值;
设置第一数值个数的通道,使通道数量为所述通道数量与第一数值相加的和,所述第一数值个数的通道对应的数据为0;
根据所述通道数量确定校验信息。
5.一种电子设备,应用于固态硬盘SSD,其特征在于,包括:数量确定单元,生成单元,读取单元及数据恢复单元,其中:
数量确定单元用于当检测到所述固态硬盘中有固态硬盘存储单元出现故障时,确定出现故障的所述固态硬盘存储单元的数量,根据所述出现故障的固态硬盘存储单元的数量确定校验单元的数量;
所述生成单元用于生成校验单元,包括:确定数据存储单元中数据块的长度,根据所述数据块的长度确定校验信息,将所述校验信息存储至存储单元,生成校验单元,生成所述校验信息时,将每一个数据块,即第一级数据块分成多个大小相同的第一级子数据块,将每一个所述第一级子数据块分成多个第二级子数据块,若数据的长度与生成校验信息的数据的个数的倍数不匹配,所述数据的长度为条带中每个所述数据块的大小,则确定所述第二级子数据块的两个不同长度值,两个不同长度值包括:第一长度及第二长度,比较所述第一长度及所述第二长度的大小,当所述第一长度大于所述第二长度时,确定所述第二长度的数值为所述数据块的个数,根据所述数据块的个数、第一长度及第二长度确定校验信息;
所述读取单元用于从所述固态硬盘中未出现故障的存储单元中读取数据存储单元和校验单元;
所述数据恢复单元用于根据所述校验单元及所述数据存储单元中的数据,确定所述出现故障的固态硬盘存储单元中的数据。
6.根据权利要求5所述的电子设备,其特征在于,还包括:生成单元,
所述生成单元用于生成校验单元,包括:确定通道数量,根据所述通道数量确定校验信息,将所述校验信息存储至存储单元,生成校验单元。
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