[发明专利]一种硬盘处理方法及电子设备

说明书

本发明公开了一种硬盘处理方法及电子设备，当检测到固态硬盘中有存储单元出现故障时，确定出现故障的存储单元的数量，根据出现故障的存储单元的数量确定校验单元的数量，从固态硬盘中未出现故障的存储单元中读取数据存储单元和校验单元，根据校验单元以及数据存储单元中的数据，确定出现故障的存储单元中的数据。本方案通过根据出现故障的存储单元的数量读取对应数量的校验单元，从而对出现故障的存储单元中的数据进行恢复，实现了无论出现故障的存储单元数量为1个还是2个，都可以进行数据恢复，避免了现有技术中只有当一个存储单元出现故障时，才能进行数据恢复，而不能在两个存储单元同时出现故障时进行数据恢复的问题。

技术领域

本发明涉及控制领域，尤其涉及一种硬盘处理方法及电子设备。

背景技术

在固态硬盘SSD控制器中应用RAID技术，将一组数据分成若干个数据块分别写在SSD的不同存储单元中，同时对这些数据块利用RAID技术生成校验信息，并将校验信息也存储在SSD的不同的存储单元中，当有一个固态硬盘存储单元出现故障时，通过校验单元及除该出现故障的固态硬盘存储单元外的其他存储单元恢复该故障固态硬盘存储单元中的数据。

然而，在固态硬盘的应用中，可能会出现两个固态硬盘存储单元出现故障的情况，此时，若再通过一个校验单元，则不能实现对出现故障的两个固态硬盘存储单元中的数据进行恢复。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种硬盘处理方法及电子设备，以解决现有技术在固态硬盘应用中，当出现两个固态硬盘存储单元出现故障时，不能通过一个校验单元对出现故障的两个存储单元进行数据恢复的问题，其具体方案如下：

一种硬盘处理方法，应用于固态硬盘SSD，包括：

当检测到所述固态硬盘中有固态硬盘存储单元出现故障时，确定出现故障的所述固态硬盘存储单元的数量；

根据所述出现故障的固态硬盘存储单元的数量确定校验单元的数量；

从所述固态硬盘中未出现故障的存储单元中读取数据存储单元和校验单元；

根据所述校验单元及所述数据存储单元中的数据，确定所述出现故障的固态硬盘存储单元中的数据。

进一步的，生成校验单元，包括：

确定数据存储单元中数据块的长度，根据所述数据块的长度确定校验信息，将所述校验信息存储至存储单元。

进一步的，生成校验单元，包括：

确定通道数量，根据所述通道数量确定校验信息，将所述校验信息存储至存储单元。

进一步的，所述确定数据存储单元中数据块的长度，根据所述数据块的长度确定校验信息，包括：

确定数据块的两个不同长度值，所述两个不同长度值包括：第一长度及第二长度；

比较所述第一长度及第二长度的大小；

当所述第一长度大于第二长度时，确定所述第二长度的数值为数据块的个数；

根据所述数据块的个数、第一长度及第二长度确定校验信息。

进一步的，所述确定通道数量，根据所述通道数量确定校验信息，包括：

确定通道数量与数据长度是否符合预定关系，所述预定关系包括：所述通道数量小于数据块的长度，所述数据长度为所述数据块长度的倍数；

若是，根据所述数据块的长度确定校验信息。

进一步的，所述根据所述数据块的长度确定校验信息，包括：

确定所述通道数量比所述数据块长度小的数值为第一数值；