[发明专利]一种源像距检测方法和装置

权利要求书

1.一种源像距SID检测方法，其特征在于，应用于具有滤线栅的放射线成像设备，在确定所述放射线成像设备的SID时，所述方法包括：

获取成像图像中由所述滤线栅造成的栅影频率分布曲线；

根据所述栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置查询关系模型，得到与所述主体分布位置对应的SID，所述关系模型对应于所述滤线栅的技术参数，用于体现频率分布的主体分布位置与SID的对应关系；

将所述SID确定为所述放射线成像设备的SID。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述关系模型根据以下方式得到：

在不同SID下，获取通过具有所述技术参数的滤线栅得到的多个成像图像；

根据所述多个成像图像的栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所获取的所述多个成像图像中，具有在同一SID下不同的成像图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个成像图像的栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型，包括：

针对同一个SID下的不同成像图像，将所述不同成像图像的栅影频率分布曲线合并为一个栅影频率分布曲线；

根据合并后的栅影频率分布曲线，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述主体分布位置包括所述栅影频率分布曲线中最大幅值对应的频率，或者是根据所述栅影频率分布曲线中幅值跳变的起始点和终止点确定的。

6.一种源像距SID检测装置，其特征在于，应用于具有滤线栅的放射线成像设备，在确定所述放射线成像设备的SID时，所述装置包括：

获取模块，用于获取成像图像中由所述滤线栅造成的栅影频率分布曲线；

查询模块，用于根据所述栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置查询关系模型，得到与所述主体分布位置对应的SID，所述关系模型对应于所述滤线栅的技术参数，用于体现频率分布的主体分布位置与SID的对应关系；

确定模块，用于将所述SID确定为所述放射线成像设备的SID。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述查询模块包括：

成像图像获取单元，用于在不同SID下，获取通过具有所述技术参数的滤线栅得到的多个成像图像；

关系模型确定单元，用于根据所述多个成像图像的栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所获取的所述多个成像图像中，具有在同一SID下不同的成像图像。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述关系模型确定单元包括：

栅影频率分布曲线合并子单元，用于针对同一个SID下的不同成像图像，将所述不同成像图像的栅影频率分布曲线合并为一个栅影频率分布曲线；

关系模型确定子单元，用于根据合并后的栅影频率分布曲线，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型。

10.根据权利要求6至9任意一项所述的装置，其特征在于，所述主体分布位置包括所述栅影频率分布曲线中最大幅值对应的频率，或者是根据所述栅影频率分布曲线中幅值跳变的起始点和终止点确定的。