[发明专利]一种源像距检测方法和装置

说明书

本申请实施例公开了一种源像距SID检测方法和装置，在需要检测具有滤线栅的放射线成像设备的SID时，可以获取成像图像中由滤线栅造成的栅影频率分布曲线，根据该栅影频率分布曲线可以确定出频率分布的主体分布位置，根据该主体分布位置查询与该滤线栅技术参数对应的关系模型，由于该关系模型可以体现出主体分布位置与SID的对应关系，故通过查询该关系模型可以得到与该主体分布位置对应的SID，从而可以将该SID确定为该放射线设备当前所需确定的SID。通过滤线栅在成像图像上栅影频率分布曲线中主体分布位置与SID的对应关系可以准确的确定当前SID，不用依靠外部测量设备，降低了确定SID的成本。

技术领域

本申请涉及数据处理领域，特别是涉及一种源像距检测方法和装置。

背景技术

在放射线成像中，源像距(Source Image Distance，SID)用于体现放射源与影像接收器之间的距离。SID在放射线成像中是一个很重要的参数，例如SID与放射源的辐射剂量之间具有对应关系，故一些情况需要根据SID确定成像所需的辐射剂量。

在放射线成像设备中，一般来说SID不是固定不变的数值，会随着成像需求进行调整。当根据成像需求例如辐射剂量或者照射目标明确一次成像作业所需的SID时，需要精确将放射源调整到与影像接收器间距离满足该SID。为了明确SID的数值，传统方式是通过附加外部测量设备来测量SID。

然而传统方式需要在放射线成像设备上额外设置测量设备，会增加放射线成像设备的整体设计难度和成本。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请提供了一种源像距检测方法，在不依靠外接设备的条件下即可实现源像距检测。

本申请实施例公开了如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供了一种源像距SID检测方法，应用于具有滤线栅的放射线成像设备，在确定所述放射线成像设备的SID时，所述方法包括：

获取成像图像中由所述滤线栅造成的栅影频率分布曲线；

根据所述栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置查询关系模型，得到与所述主体分布位置对应的SID，所述关系模型对应于所述滤线栅的技术参数，用于体现频率分布的主体分布位置与SID的对应关系；

将所述SID确定为所述放射线成像设备的SID。

可选的，所述关系模型根据以下方式得到：

在不同SID下，获取通过具有所述技术参数的滤线栅得到的多个成像图像；

根据所述多个成像图像的栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型。

可选的，所获取的所述多个成像图像中，具有在同一SID下不同的成像图像。

可选的，所述根据所述多个成像图像的栅影频率分布曲线中频率分布的主体分布位置，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型，包括：

针对同一个SID下的不同成像图像，将所述不同成像图像的栅影频率分布曲线合并为一个栅影频率分布曲线；

根据合并后的栅影频率分布曲线，以及得到所述多个成像图像的SID确定出包括了主体分布位置与SID对应关系的关系模型。

可选的，所述主体分布位置包括所述栅影频率分布曲线中最大幅值对应的频率，或者是根据所述栅影频率分布曲线中幅值跳变的起始点和终止点确定的。

第二方面，本申请实施例提供了一种源像距SID检测装置，应用于具有滤线栅的放射线成像设备，在确定所述放射线成像设备的SID时，所述装置包括：