[发明专利]一种三轴实验仪试件质量测量装置在审

专利信息
申请号: 201810011124.8 申请日: 2018-01-05
公开(公告)号: CN108106940A 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 俞缙;廖仁国;蔡燕燕;刘士雨;涂兵雄;周建烽 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06;G01N5/00
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭;叶碎银
地址: 362000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 试件 三轴实验 质量检测单元 质量测量装置 质量输出 三轴仪 测量试件 加载系统 实验效率 天平测量 质量测量 质量信号 质量信息 输出 检测 底端 测量
【权利要求书】:

1.一种三轴实验仪试件质量测量装置,包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室,其特征在于:还包括:

质量检测单元,用于检测试件的质量,并将试件的质量信号转变成电信号;

质量输出单元,用于输出质量信息;

所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端,且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。

2.根据权利要求1所述的三轴实验仪试件质量测量装置,其特征在于:所述质量检测单元为压力传感器。

3.根据权利要求1所述的三轴实验仪试件质量测量装置,其特征在于:所述质量输出单元为质量显示仪或语音播报单元。

4.根据权利要求1或2或3所述的三轴实验仪试件质量测量装置,其特征在于:所述质量检测单元的输出端通过引线与所述质量输出单元电连接。

5.根据权利要求4所述的三轴实验仪试件质量测量装置,其特征在于:所述质量检测单元上设置有引线孔,用于连接所述引线。

6.根据权利要求1所述的三轴实验仪试件质量测量装置,其特征在于:所述三轴实验加载系统包括轴压系统、围压系统和低温控制系统。

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