[发明专利]一种三轴实验仪试件质量测量装置在审
申请号: | 201810011124.8 | 申请日: | 2018-01-05 |
公开(公告)号: | CN108106940A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 俞缙;廖仁国;蔡燕燕;刘士雨;涂兵雄;周建烽 | 申请(专利权)人: | 华侨大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/06;G01N5/00 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭;叶碎银 |
地址: | 362000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 试件 三轴实验 质量检测单元 质量测量装置 质量输出 三轴仪 测量试件 加载系统 实验效率 天平测量 质量测量 质量信号 质量信息 输出 检测 底端 测量 | ||
本发明公开了一种三轴实验仪试件质量测量装置,包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室,还包括:质量检测单元,用于检测试件的质量,并将试件的质量信号转变成电信号;质量输出单元,用于输出质量信息;所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端,且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。本发明可以取代传统天平测量方式,对试件在三轴实验前、后进行质量测量,不仅大大提高了试件测量的准确性,还减少了人为测量试件质量的步骤,操作简便,大大提高了实验效率。
技术领域
本发明涉及三轴实验仪,特别是涉及一种三轴实验仪试件质量测量装置。
背景技术
三轴实验仪(又叫三轴试验机)是一种实验室常用的试验仪器,其通过轴向系统对试件施加轴向试样力,通过压力室对试件施加围压,同时通过温度控制系统使试件的上、下端面、试件中部分别处在不同的温度环境下,从而模拟试件的冻结、冻融等多种实际工况。在试件的三轴试验中,试件的质量损失率有时也是必要观察的一个量值,一般测量质量损失率的方法是将实验前和实验后试件的质量差除以原试件的质量,原理上是这样,但实验室测量试件的质量采用的是天平,这就难免带来了误差,读数上的误差和三轴试验结束后试件往往破损造成质量的损失所带来的误差,使得所得到的质量损失率不准确。为此,为有效解决上述问题,开发一种三轴实验仪试件质量测量的装置成为亟待解决的问题。
发明内容
针对现有技术中试件测量误差带来的问题,本发明提供了一种三轴实验仪试件质量测量装置,用于减小试件质量测量带来的误差。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种三轴实验仪试件质量测量装置,包括三轴实验加载系统、用于放置试件的三轴仪应力室,还包括:
质量检测单元,用于检测试件的质量,并将试件的质量信号转变成电信号;
质量输出单元,用于输出质量信息;
所述质量检测单元设置在三轴仪应力室底端,且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元。
进一步的,所述质量检测单元为压力传感器。
进一步的,所述质量输出单元为质量显示仪或语音播报单元。
进一步的,所述质量检测单元的输出端通过引线与所述质量输出单元电连接,所述质量检测单元上对应设置有引线孔。
进一步的,所述三轴实验加载系统包括轴压系统、围压系统和低温控制系统。
相较于现有技术,本发明具有以下有益效果:
1、由于本发明通过在三轴仪应力室底端设置所述质量检测单元,且该质量检测单元将检测的结果输出给所述质量输出单元,使得本发明可以取代传统天平测量方式,对试件在三轴实验前、后进行质量测量,不仅避免了读数误差、试验结束后试件破碎造成质量损失带来的误差,大大提高了试件测量的准确性,还减少了人为测量试件质量的步骤,操作简便,大大提高了实验效率。
2、所述质量检测单元优选采用压力传感器,具有检测精准、成本低等特点;所述质量输出单元优选采用质量显示仪,具有检测结果显示直观明了等特点。
以下结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明;但本发明的一种三轴实验仪试件质量测量装置不局限于实施例。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
具体实施方式
实施例,请参见图1所示,本发明的一种三轴实验仪试件质量测量装置,包括三轴实验加载系统7、用于放置试件的三轴仪应力室6,以及,
质量检测单元,用于检测试件的质量,并将试件的质量信号转变成电信号;
质量输出单元,用于对外输出质量信息;
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