[发明专利]一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法有效

专利信息
申请号: 201810014752.1 申请日: 2018-01-08
公开(公告)号: CN108318514B 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 邱振;卢斌;周尚文;董大忠 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22;G01N23/2202;G01N15/08;G01N1/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 确定 笔石体 围岩 属性 信息 方法
【权利要求书】:

1.一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法,其特征在于,包括:

对页岩样品的断面进行镀碳处理;

利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描,确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置;所述台式扫描电镜放大倍数为130-150倍,扫描电压为5千伏;

利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作,得到扫描图像;所述聚焦离子束扫描电镜的放大倍数为1000-60000倍,扫描电压为5千伏;所述聚焦离子束扫描电镜利用二次电子探头采集图像;

对所述扫描图像进行第一属性提取,分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度;所述对所述扫描图像进行第一属性提取包括提取所述图像的灰度属性,所述分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度,包括:计算所述扫描图像中笔石体分布位置处,第一属性为黑色的第一像素数;计算所述扫描图像中围岩分布位置处,第一属性为黑色的第二像素数;第一像素数与扫描图像总像素数的比值为笔石体的有机质丰度,第二像素数与扫描图像总像素数的比值为围岩的有机质丰度;

对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘,对清绘后的扫描图像进行第一处理,根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述页岩样品的断面上具有至少1条笔石体,所述页岩样品的尺寸小于2厘米×2厘米。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述镀碳处理采用真空镀膜技术,具体包括:将碳棒在真空下通过电流加热进行蒸发,蒸发的蒸汽沉积在所述页岩样品的表面形成碳膜。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述电流加热蒸发的时间为10-15分钟。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对清绘后的扫描图像进行第一处理,包括:对所述清绘的扫描图像中的孔隙进行灰度处理,以使所述孔隙为灰度图像。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率,包括:

识别所述第一处理结果中笔石体分布位置处的第一孔隙,统计所述第一孔隙的孔隙直径和面孔率;

识别所述第一处理结果中围岩分布位置处的第二孔隙,统计所述第二孔隙的孔隙直径和面孔率。

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