[发明专利]一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法

说明书

本申请实施例公开了一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法，包括：对页岩样品的断面进行镀碳处理；利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描，确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置；利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作，得到扫描图像；对所述扫描图像进行第一属性提取，分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度；对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘，对清绘后的扫描图像进行第一处理，根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。可以准确获得笔石体与围岩的有机质丰度和有机质孔隙特征情况。

技术领域

本申请涉及石油勘探技术领域，特别涉及一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法。

背景技术

四川盆地及周缘五峰组-龙马溪组地层中发育着大量的富含有机质的黑色笔石页岩，蕴含着丰富的地球化学信息，是目前中国页岩气勘探开发的重点层系。开展页岩中有机质特征研究对于页岩气的勘探开发具有重要的指导意义。

前人对笔石开展了大量的研究工作，主要研究了笔石的物质组成和光学特征，提出了笔石的反射率指示烃源岩成熟度，以及讨论了笔石对页岩储层储集能力的贡献。由于笔石体的尺寸较大(长度在mm-cm级)，目前通常采用普通的光学显微镜来研究笔石中有机质的微细结构和光性特征，为生物地层学和烃源岩成熟度的研究奠定了理论基础。

目前对于笔石体与围岩中有机质与孔隙特征的差异研究甚少。现有研究页岩中笔石的技术手段主要是基于肉眼观察、普通光学显微镜和显微傅立叶红外光谱等方法，对笔石体与围岩组成和形态特征进行研究。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：由于普通光学显微镜的分辨率低，景深小，较难对笔石体与围岩的有机质和微孔隙特征进行有效的表征，因此，无法准确获得笔石体与围岩的有机质丰度和有机质孔隙特征情况。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法，以准确获得笔石体与围岩的有机质丰度和有机质孔隙特征情况。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法是这样实现的：

一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法，包括：

对页岩样品的断面进行镀碳处理；

利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描，确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置；

利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作，得到扫描图像；

对所述扫描图像进行第一属性提取，分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度；

对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘，对清绘后的扫描图像进行第一处理，根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。

优选方案中，所述页岩样品的断面上具有至少1条笔石体，所述页岩样品的尺寸小于2厘米×2厘米。

优选方案中，所述镀碳处理采用真空镀膜技术，具体包括：将碳棒在真空下通过大电流加热进行蒸发，蒸发的蒸汽沉积在所述页岩样品的表面形成碳膜。

优选方案中，所述大电流加热蒸发的时间为10-15分钟。

优选方案中，所述台式扫描电镜放大倍数为130-150倍，扫描电压为5千伏。

优选方案中，所述聚焦离子束扫描电镜的放大倍数为1000-60000倍，扫描电压为5千伏。

优选方案中，所述聚焦离子束扫描电镜利用二次电子探头采集图像，以得到所述扫描图像。