[发明专利]垢下金属表面pH值测量的方法

权利要求书

1.一种垢下金属表面pH值测量的方法，采用pH测量装置进行垢下金属表面pH值的测量，所述装置包括平头pH电极、密封圈、中空柱、金属网和中空固定器，在平头pH电极上安装密封圈A、密封圈B，通过密封圈的弹性和摩擦固定在中空柱上，将平头pH电极放入中空柱内，平头朝上，金属网放置于中空柱上部的台阶上，然后放入密封圈C，通过密封圈C，中空固定器和中空柱对金属网进行固定；将中空柱下部的外螺纹旋进实验容器下部的内螺纹口，实现实验容器口的密封和中空柱的固定；进行测量时，包括如下步骤：

1)在平头pH电极上安装密封圈A、密封圈B隔绝空气和实验溶液，同时通过密封圈A、密封圈B的弹性和摩擦固定在中空柱上；

2)将平头pH电极放入中空柱内，将金属网放到中空柱上部的台阶上，然后放入密封圈C，通过密封圈C、中空固定器和中空柱对金属网进行固定；

3)将中空柱旋进实验容器下部的内螺纹口，实现实验容器口的密封和中空柱的固定；

4)向实验容器内加入实验溶液，实验溶液与金属网接触而在金属网上形成腐蚀产物膜、微生物膜而形成垢层，或者通过外加方式在金属网添加垢层，进而通过平头pH电极测量垢下金属表面的pH值。

2.根据权利要求1所述垢下金属表面pH值测量的方法，其特征在于，金属网的形状与中空柱匹配。

3.根据权利要求1所述垢下金属表面pH值测量的方法，其特征在于，中空固定器带有外螺纹，中空柱的台阶以上位置带有内螺纹。

4.根据权利要求1所述垢下金属表面pH值测量的方法，其特征在于，金属网的材质与试验用金属的材质相同。

5.根据权利要求1所述垢下金属表面pH值测量的方法，其特征在于，中空固定器是中空结构，实验溶液能接触金属网。

6.根据权利要求1所述垢下金属表面pH值测量的方法，其特征在于，在中空柱下部的外螺纹处缠上聚四氟带，旋进实验容器下部的内螺纹口。

7.根据权利要求1所述垢下金属表面pH值测量的方法，其特征在于，根据实验需要在金属网上添加垢层。