[发明专利]一种磁路材料外观检测的光学装置

权利要求书

1.一种磁路材料外观检测的光学装置，包括与相机(3)相连的图像处理器，所述相机(3)的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体(6)外围的反光镜(4)、用于给所述反光镜(4)提供光源的背光板(1)、用于将所述反光镜(4)的反射光折射至所述相机(3)镜头的分光镜(2)，所述分光镜(2)发出的光束与相机(3)的光轴平行的同轴光线；其特征在于：所述分光镜(2)与所述反光镜(4)之间还设置有改变光线折射率的回字元件(5)。

2.根据权利要求1所述的光学装置，其特征在于：所述回字元件(5)包括无色透明玻璃材质制成的透镜本体(51)，所述透镜本体(51)内设置有居中开孔(56)、右侧分镜(52)、上侧分镜(53)、下侧分镜(54)、左侧分镜(55)，所述右侧分镜(52)设置在所述居中开孔(56)的右侧，所述上侧分镜(53)设置在所述居中开孔(56)的上侧，所述下侧分镜(54)设置在所述居中开孔(56)的下侧，所述左侧分镜(55)设置在所述居中开孔(56)的左侧，所述右侧分镜(52)、上侧分镜(53)、下侧分镜(54)、左侧分镜(55)合围形成回字型凹槽。

3.根据权利要求1所述的光学装置，其特征在于：所述背光板(1)包括用于明场照明的第一光源和用于暗场照明的第二光源。

4.根据权利要求2所述的光学装置，其特征在于：所述右侧分镜(52)与左侧分镜(55)的折射率相同，并沿着回字元件(5)的纵向中轴线对称分布；所述上侧分镜(53)与下侧分镜(54)的折射率相同，并沿着回字元件(5)的横向中轴线对称分布。

5.根据权利要求1所述的光学装置，其特征在于：所述反光镜(4)包括角度调节器和平面镜，所述平面镜设置在角度调节器上。

6.根据权利要求2所述的光学装置，其特征在于：所述待测物体(6)包括磁性主体(61)，所述磁性主体(62)居中设置有居中磁物(66)，所述居中磁物(66)的外围上下对称设有上侧磁物(63)和下侧磁物(64)，所述居中磁物(66)的外围左右对称设有左侧磁物(65)和右侧磁物(62)。