[发明专利]一种磁路材料外观检测的光学装置

说明书

技术领域

本发明涉及检测设备领域，尤其涉及一种磁路材料外观检测的光学装置。

背景技术

现有技术中针对磁路材料(待测物体)进行检测，需要在磁路与磁路材料外围架设5个相机对磁路材料的5个面分别进行拍摄，并将拍摄后的图片通过IO传输到图像处理器进行相应处理。上述处理过程中无法很好的解决待测物体景深不一致问题，同时多个相机也增加成本。

发明内容

为克服上述缺点，本发明的目的在于提供一个相机拍摄待测物体5个面的光学检测装置，通过折射率之间的差异来确认景深差距。

为了达到以上目的，本发明采用的技术方案是：一种光学检测装置，包括与相机相连的图像处理器，所述相机的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体外围的反光镜、用于给所述反光镜提供光源的背光板、用于将所述反光镜的反射光折射至所述相机镜头的分光镜，所述分光镜发出的光束与相机的光轴平行的同轴光线；所述分光镜与所述反光镜之间还设置有改变光线折射率的回字元件。

本发明通过反光镜、分光镜的使用，使得一个相机能够对待测物体的五个部分同时进行拍摄，并通过回字元件让“回”字形最内侧“口”和外围“口”的补集区域的折射率不同，通过折射率之间的差异来计算景深差距，解决待测物体景深不一致问题。

优选地，所述回字元件包括无色透明玻璃材质制成的透镜本体，所述透镜本体内设置有居中开孔、右侧分镜、上侧分镜、下侧分镜、左侧分镜，所述右侧分镜设置在所述居中开孔的右侧，所述上侧分镜设置在所述居中开孔的上侧，所述下侧分镜设置在所述居中开孔的下侧，所述左侧分镜设置在所述居中开孔的左侧，所述右侧分镜、上侧分镜、下侧分镜、左侧分镜合围形成形成回字型凹槽。右侧分镜、上侧分镜、下侧分镜、左侧分镜的厚度越厚，待测物体景深越大，为此可通过调整回字型凹槽的深度来满足景深一致的要求。

优选地，所述背光板包括用于明场照明的第一光源和用于暗场照明的第二光源。通过第一光源和第二光源使得相机能够连续拍摄两张不同亮度的图片，使得图像处理器能够对两张不同亮度的图片同时进行处理。

优选地，所述右侧分镜与左侧分镜的折射率相同，并沿着回字元件的纵向中轴线对称分布；所述上侧分镜与下侧分镜的折射率相同，并沿着回字元件的横向中轴线对称分布。利用折射率不同的特殊物质，增加物距，达到景深一致。

优选地，所述反光镜包括角度调节器和平面镜，所述平面镜设置在角度调节器上。通过平面镜附着在一个可旋转的角度调节器上实现角度可调节，解决检测高度方向上站高过小，难以检测问题。

优选地，所述待测物体包括磁性主体，所述磁性主体居中设置有居中磁物，所述居中磁物的外围上下对称设有上侧磁物和下侧磁物，所述居中磁物的外围左右对称设有左侧磁物和右侧磁物。当然，待测物体除了上述磁路，还可以是IC材料或者类似长方体的材料。

附图说明

图1为本发明实施例的光学示意图；

图2为本发明实施例中待测物体的结构示意图；

图3为本发明实施例中回字元件的俯视示意图。

图中：

1-背光板；2-分光镜；3-相机；4-反光镜；5-回字元件；6-待测物体；51-回字元件本体；52-右侧分镜；53-上侧分镜；54-下侧分镜；55-左侧分镜；56-居中开孔；61-磁性主体；62-右侧磁物；63-上侧磁物；64-下侧磁物；65-左侧磁物；66-居中磁物。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

实施例

参见附图1～图3所示，本实施例中的一种光学检测装置，包括与相机3相连的图像处理器，所述相机3的镜头前设置有光学成像机构，所述光学成像机构包括放置在待测物体6外围的反光镜4、用于给所述反光镜4提供光源的背光板1、用于将所述反光镜4的反射光折射至所述相机镜头的分光镜2，所述分光镜2发出的光束与相机3的光轴平行的同轴光线；所述分光镜2与所述反光镜4之间还设置有改变光线折射率的回字元件5。