[发明专利]一种用于eMMC芯片存储参数测试的方法及系统

权利要求书

1.一种用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，包括：

S1，上位机设定写入eMMC芯片的写入文件的大小和内容，发送写入文件和指令至下位机，所述指令包括写入指令；

S2，下位机执行写入指令内容，连续向eMMC芯片写入写入文件；下位机记录写入次数，计算和上传已写入eMMC芯片的数据量、写入速度和eMMC芯片剩余可用容量至上位机；

S3，上位机根据已写入eMMC芯片的数据量和eMMC芯片剩余可用容量，判断eMMC芯片是否写满，若eMMC芯片未写满，返回步骤S2；若eMMC芯片已写满，进行eMMC芯片寿命性能判断，方法为：

若eMMC芯片剩余可用容量大于等于单次检测存入数据量，且已写入eMMC芯片的数据量大于等于厂家预估总容量，则该eMMC芯片寿命符合要求，若eMMC芯片剩余可用容量小于单次检测存入数据量，则认为该eMMC芯片寿命不符合要求，结束测试；

其中，所述eMMC芯片剩余可用容量为随着反复擦写不断产生坏块后，eMMC芯片可正常写入的容量，下位机在每次写入时获取；

所述已写入eMMC芯片的数据量等于写入文件的数据量与写入次数的乘积；

所述单次检测存入数据量为设备使用过程中每次测试后存入eMMC芯片的数据量；

所述厂家预估总容量为设备在使用年限内写入eMMC芯片的总数据量。

2.如权利要求1所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，所述步骤S3的方法替换为：

上位机根据已写入eMMC芯片的数据量和eMMC芯片剩余可用容量，判断已写入eMMC芯片的数据量是否达到厂家预估总容量，

若已写入eMMC芯片的数据量达到厂家预估总容量，且eMMC芯片剩余可用容量大于等于单次检测存入数据量，则该eMMC芯片寿命符合要求；若eMMC芯片剩余可用容量小于单次检测存入数据量，则该eMMC芯片寿命不符合要求；结束测试；

若已写入eMMC芯片数据量未达到厂家预估总容量，且eMMC芯片剩余可用容量等于或大于单次检测存入数据量，返回步骤S2。

3.如权利要求1所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，在所述步骤S3中，判断eMMC芯片是否写满方法为：

若eMMC芯片剩余可用容量小于写入文件的数据量，则认为eMMC芯片已写满，若eMMC芯片剩余可用容量大于等于写入文件的数据量，认为eMMC芯片未写满。

4.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，在所述步骤S3中，还包括eMMC芯片极限寿命评估步骤，所述eMMC芯片极限寿命为：

eMMC芯片极限寿命＝(已写入eMMC芯片的数据量/单次检测存入数据量)_×设备存储周期t₂；

所述设备存储周期t₂为设备使用过程中检测周期。

5.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，所述指令还包括读取指令，在下位机执行所述读取指令内容时，读取eMMC芯片中的已写入的数据，计算读取速度，并上传eMMC芯片中的已写入的数据和读取速度至上位机；

上位机将eMMC芯片中的已写入的数据与写入文件进行对比，若一致，则eMMC芯片中的已写入的数据正确，若不一致，则eMMC芯片中的已写入的数据错误。

6.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，所述写入文件的数据量大于单次检测存入数据量。

7.如权利要求2所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，所述写入文件的数据量小于或等于单次检测存入数据量。

8.如权利要求1或2所述的用于eMMC存储参数测试的方法，其特征在于，在所述步骤S2中，以时间间隔t₁在eMMC芯片中写入文件，所述时间间隔t₁通过上位机设定。