[发明专利]一种用于eMMC芯片存储参数测试的方法及系统

说明书

本发明公开了一种用于eMMC存储参数测试的方法及系统，该方法包括：S1，上位机发送写入文件和指令至下位机；S2，下位机执行写入指令；S3，上位机进行eMMC芯片寿命性能判断，在eMMC芯片写满时，若eMMC芯片剩余可用容量达到单次检测存入数据量，且已写入eMMC芯片数据量大于等于厂家预估总容量，则该eMMC芯片寿命符合要求，否则认为该eMMC芯片寿命不符合要求。对于将eMMC芯片运用在实时大量数据存储记录仪之类产品的时候，设备厂家可以通过该方法及系统快速、便捷地提前对eMMC芯片的性能和使用寿命进行检测评估，可作为产品可靠性测试的工具，用以保证产品使用的可靠性和长久的使用寿命，可评估不同容量eMMC芯片。

技术领域

本发明涉及一种存储芯片测试方法，特别是涉及一种用于eMMC芯片存储参数测试的方法及系统。

背景技术

eMMC芯片(Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒体卡)由NAND Flash、控制器和标准封装接口组成，其中，NAND Flash提供了存储空间；控制器实现了对Flash块的读写控制和管理，包括ECC除错机制(Error Correcting Code)、区块管理(Block Management)、平均抹写储存区块技术(Wear Leveling)、指令管理管理(Command Management)、低功耗管理等；标准封装接口实现了对多品牌NAND Flash的不同读写指令，在用户接口上的统一，使用户可以专注于应用开发，而不必考虑Flash品牌和工艺的差异性。eMMC芯片采用BGA(BallGrid Array Package，球栅阵列封装)技术封装，以圆形或柱状焊点按阵列形式分布在封装下面，可以增加eMMC芯片的集成度。

eMMC芯片实质也是对NAND FLASH的操作，NAND FLASH芯片因为自身的原理特性限制，随着擦除写入次数的增加将不断产生新的坏块，持续的增加的坏块数量将导致数据损坏丢失，极大的影响了存储数据的可靠性和安全性。虽然eMMC芯片的控制器中的主控驱动通过平衡擦除等优化算法延长了eMMC芯片使用寿命，但是随着擦写次数的增加，坏块的不断产生，eMMC芯片的存储容量和读写速度均会不断下降，特别是当前NAND FLASH的制造厂商为了追求利润，使用成本低廉、可擦写次数低的TLC，甚至QLC，使NAND FLASH的使用寿命堪忧，因此，eMMC芯片在使用一段时间后，大多会存在寿命提前到期的问题。另外，eMMC芯片因为采用BGA封装导致更换困难且麻烦，因此一般eMMC芯片损坏后，其嵌入的电子设备一般报废了。

由于eMMC芯片较传统的存储介质有极大的操作便利性，它己然成为了业内数码产品、便携式数据存储和记录设备的首选。eMMC芯片应用于手机、电视等数码产品时，由于这些产品在使用过程中对于eMMC芯片来说，读取操作的频率远比写入操作的高，故而eMMC芯片的使用寿命很长，加之数码产品更新换代很快，基本达不到eMMC芯片的使用极限寿命；但若将eMMC芯片用于便携式数据存储和记录设备，尤其用于实时记录大量数据的记录仪时，写入操作的频率非常的高，且这类产品对数据的完整可靠性要求非常高，而且一套设备使用年限很长，并不会频繁更新换代，eMMC芯片因为BGA封装的特性导致更换困难且麻烦，因而设备厂家在设计产品和测试产品时，必须对选择的eMMC芯片进行性能、读写寿命测试。

目前，对eMMC芯片进行性能和寿命指标的评估多是芯片生产厂家提供的数据手册，相关的测试验证手段只有芯片厂家自身知道；也有资深数码公司或者玩家通过一些极限测试软件对于PC平台的SSD(主控芯片+多片NAND FLASH)进行寿命测试，但因为平台系统等不同，还不适合用于eMMC芯片的评估。因此，对于需要实时大容量数据存储的仪器设备和数据记录设备的生产厂家来说，在将eMMC芯片作为存储模块时，eMMC芯片会面对高频率擦写操作，厂家需要一种快速、便捷的方法对eMMC芯片进行性能和寿命指标评估。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题，特别创新地提出了一种用于eMMC芯片存储参数测试的方法及系统。