[发明专利]一种图像融合方法及装置在审

专利信息
申请号: 201810022314.X 申请日: 2018-01-10
公开(公告)号: CN110021002A 公开(公告)日: 2019-07-16
发明(设计)人: 杨新辉;宫睿;冉文波 申请(专利权)人: 青柠优视科技(北京)有限公司
主分类号: G06T5/50 分类号: G06T5/50
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100191 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 残差图像 模函数 可见光 融合 图像 融合处理 图像融合 可见光图像 红外图像 经验模态分解 膨胀处理 融合图像 预设
【权利要求书】:

1.一种图像融合方法,其特征在于,包括:

分别对预设的可见光图像和红外图像进行结合了W系统的经验模态分解处理,得到可见光内蕴模函数图像、可见光残差图像、红外内蕴模函数图像以及红外残差图像;

将所述可见光内蕴模函数图像与所述红外内蕴模函数图像进行融合处理得到融合内蕴模函数图像,以及将所述可见光残差图像与所述红外残差图像进行融合处理得到融合残差图像;

对所述融合残差图像进行插值膨胀处理,并将处理后的融合残差图像与所述融合内蕴模函数图像进行融合处理,得到融合图像。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述分别对预设的可见光图像和红外图像进行结合了W系统的经验模态分解处理,得到可见光内蕴模函数图像、可见光残差图像、红外内蕴模函数图像以及红外残差图像,包括:

对预设的可见光图像进行经验模态分解处理,得到第一内蕴模函数图像和第一残差图像,以及对预设的红外图像进行经验模态分解处理,得到第二内蕴模函数图像和第二残差图像;

对所述第一残差图像进行W变换处理,并对处理结果的低频四分之一部分进行低一级尺度的W逆变换处理,得到可见光残差图像,以及对所述第二残差图像进行W变换处理,并对处理结果的低频四分之一部分进行低一级尺度的W逆变换处理,得到红外残差图像;

对所述可见光残差图像进行插值膨胀处理得到第三残差图像,以及对所述红外残差图像进行插值膨胀处理得到第四残差图像;

计算得到所述第三残差图像与所述第一残差图像的差值,以及计算得到所述第四残差图像与所述第二残差图像的差值;

对所述第三残差图像与所述第一残差图像的差值,与所述第一内蕴模函数图像进行求和处理,得到可见光内蕴模函数图像,以及对所述第四残差图像与所述第二残差图像的差值,与所述第二内蕴模函数图像进行求和处理,得到红外内蕴模函数图像。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述可见光内蕴模函数图像与所述红外内蕴模函数图像进行融合处理得到融合内蕴模函数图像,以及将所述可见光残差图像与所述红外残差图像进行融合处理得到融合残差图像,包括:

分别计算得到所述可见光残差图像和所述红外残差图像的局部可见度,以及分别计算得到所述可见光内蕴模函数图像和所述红外内蕴模函数图像的区域能量值;

根据所述可见光残差图像和所述红外残差图像的局部可见度,确定所述可见光残差图像和所述红外残差图像的对应像素点的灰度值,得到融合残差图像;以及根据所述可见光内蕴模函数图像和所述红外内蕴模函数图像的区域能量值,确定所述可见光内蕴模函数图像和所述红外内蕴模函数图像的对应像素点的灰度值,得到融合内蕴模函数图像。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述可见光残差图像和所述红外残差图像的局部可见度,确定所述可见光残差图像和所述红外残差图像的对应像素点的灰度值,包括:

分别对所述可见光残差图像和所述红外残差图像的局部可见度进行归一化处理;

根据归一化处理后的所述可见光残差图像和所述红外残差图像的局部可见度计算得到所述可见光残差图像和所述红外残差图像的匹配度;

对于所述可见光残差图像和所述红外残差图像的每一对应像素点,分别执行以下操作:

判断所述对应像素点的匹配度是否大于设定的第一阈值;

如果所述对应像素点的匹配度大于设定的第一阈值,则通过绝对值取大规则确定所述对应像素点的灰度值;

如果所述对应像素点的匹配度不大于设定的第一阈值,则按照预设的计算方法,根据所述可见光残差图像和所述红外残差图像的局部可见度计算得到所述对应像素点的灰度值。

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