[发明专利]一种相位反卷折方法与设备

权利要求书

1.一种相位反卷折方法，所述方法能够被计算机设备执行，所述计算机设备包括处理器和存储介质，所述方法包括：

获取对象的多个回波信号，所述多个回波信号在不同回波时间内产生；

根据所述多个回波信号产生多个卷折相位图，每个卷折相位图包括一个或多个第一卷折值；

根据所述多个卷折相位图产生相位差映射图，所述相位差映射图包括一个或多个第二卷折值；

对所述相位差映射图中的第二卷折值进行反卷折操作，产生反卷折相位差映射图；

根据所述反卷折相位差映射图确定的第一场分布映射图；以及

根据所述第一场分布映射图，对每个卷折相位图中的第一卷折值进行反卷折操作，以产生多个反卷折相位图；

所述产生多个反卷折相位图包括：

选取多个卷折相位图中的一个作为参考相位映射图；

根据所述参考相位映射图和所述第一场分布映射图确定每个卷折相位图的相对相位偏移；

根据所述每个卷折相位图的相对相位偏移和所述参考相位映射图产生每个卷折相位图的局部反卷折相位映射图；

根据所述参考相位映射图和局部反卷折相位映射图，产生基线相位映射图；以及

根据所述基线相位映射图、所述参考相位映射图和每个卷折相位图的局部反卷折相位映射图，产生多个反卷折相位图。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述相位差映射图包含多个相位差值，所述相位差值与至少两个回波信号相对应。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：

根据所述参考相位映射图和所述局部反卷折相位映射图产生第二场分布映射图。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述产生反卷折相位差映射图包括：

基于所述相位差映射图产生中间相位差映射图；

根据所述中间相位差映射图产生局部质量映射图，所述局部质量映射图包括多个质量值，且所述中间相位差映射图中每个像素分别对应所述多个质量值中的一个；

基于所述局部质量映射图对所述中间相位差映射图执行相位反卷折处理，产生反卷折中间相位差映射图；以及

根据所述反卷折中间相位差映射图对所述相位差映射图执行相位反卷折处理，产生反卷折相位差映射图。

5.如权利要求4所述的方法，其中，所述基于所述局部质量映射图对所述中间相位差映射图执行相位反卷折处理，产生反卷折中间相位差映射图包括：

根据所述局部质量映射图在所述中间相位差映射图中确定一个或多个像素点以作为起始种子点，所述像素点对应优化质量值；

将所述起始种子点标记为反卷折点。

6.一种用于磁共振成像的相位反卷折系统，所述系统包括：

存储器，用于存储指令；以及

处理器，被配置为与所述存储器进行交互并执行所述指令，所述处理器被配置为使所述系统实现：

根据多个回波信号产生多个卷折相位图，每个卷折相位图包括一个或多个第一卷折值，每个卷折相位图对应一个或多个回波信号；

根据所述多个卷折相位图产生相位差映射图，所述相位差映射图包括一个或多个第二卷折值；

对所述相位差映射图中的第二卷折值进行反卷折操作，产生反卷折相位差映射图；

根据所述反卷折相位差映射图确定的第一场分布映射图；以及

根据所述第一场分布映射图，对每个卷折相位图中的第一卷折值进行反卷折操作，以产生多个反卷折相位图；

所述产生多个反卷折相位图包括：

选取多个卷折相位图中的一个作为参考相位映射图；

根据所述参考相位映射图和所述第一场分布映射图确定每个卷折相位图的相对相位偏移；

根据所述每个卷折相位图的相对相位偏移和所述参考相位映射图产生每个卷折相位图的局部反卷折相位映射图；

根据所述参考相位映射图和局部反卷折相位映射图，产生基线相位映射图；以及

根据所述基线相位映射图、所述参考相位映射图和每个卷折相位图的局部反卷折相位映射图，产生多个反卷折相位图。