[发明专利]一种相位反卷折方法与设备有效
申请号: | 201810028569.7 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN108375746B | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 叶永泉;宗金光 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/56 | 分类号: | G01R33/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 相位 反卷折 方法 设备 | ||
本申请公开了一种相位反卷折方法与设备。方法可包括:获取对象的多个回波信号,多个回波信号在不同回波时间内产生;根据多个回波信号产生多个卷折相位图,每个卷折相位图包括一个或多个第一卷折值;根据多个卷折相位图产生相位差映射图,相位差映射图包括一个或多个第二卷折值;对相位差映射图中的第二卷折值进行反卷折操作,产生反卷折相位差映射图;根据反卷折相位差映射图确定的第一场分布映射图;以及根据第一场分布映射图,对每个卷折相位图中的第一卷折值进行反卷折操作,以产生多个反卷折相位图。
本申请要求2017年1月18日递交的美国临时申请No.62/477,878的优先权,其全部内容通过参考在此引入。
技术领域
本申请涉及磁共振成像(MRI)技术领域,并且尤其涉及可提高图像质量的相位反卷折方法与设备。
背景技术
对于包括回波信号在内的复数信号而言,其相位信息可通过反三角函数运算得到,相位信息的存储数值范围只有2π大小,如果实际的相位值超出了这个范围,该相位的存储值将会被卷折到存储范围内,从而产生一个误差,在图像上则形成跳变伪影。为了提高图像的质量,需要进行相位反卷折或解缠计算,即通过相位反卷折操作可确定复数信号的实际相位值。然而,对于信噪比受限的情况,比如:高分辨率成像时,或者对于一些信噪比较低的成像区域如空气-组织交界等地方,相位的空间连续性会因为噪声造成的额外相位信息而被降低甚至破坏,从而导致错误的反卷折结果。因此,需要提供准确的相位反卷折方法和设备。
发明内容
本申请的一部分附加特性可以在下面的描述中进行说明。通过对以下描述和相应附图的检查或者对实施例的生产或操作的了解,本申请的一部分附加特性对于本领域技术人员是明显的。本披露的特性可以通过对以下描述的具体实施例的各种方面的方法、手段和组合的实践或使用得以实现和达到。
根据本申请的一个方面,提出一种用于磁共振成像的相位反卷折方法,该方法可包括一个或多个如下的操作:获取对象的多个回波信号,所述多个回波信号在不同回波时间内产生;根据所述多个回波信号产生多个卷折相位图,每个卷折相位图包括一个或多个第一卷折值;根据所述多个卷折相位图产生相位差映射图,所述相位差映射图包括一个或多个第二卷折值;对所述相位差映射图中的第二卷折值进行反卷折操作,产生反卷折相位差映射图;根据所述反卷折相位差映射图确定的第一场分布映射图;以及,根据所述第一场分布映射图,对每个卷折相位图中的第一卷折值进行反卷折操作,以产生多个反卷折相位图。
在一些实施例中,所述相位差映射图包含多个相位差值,所述相位差值与至少两个回波信号相对应。
在一些实施例中,所述产生多个反卷折相位图包括:选取多个卷折相位图中的一个作为参考相位映射图;根据所述参考相位映射图和所述第一场分布映射图确定每个卷折相位图的相对相位偏移;根据所述每个卷折相位图的相对相位偏移和所述参考相位映射图产生每个卷折相位图的局部反卷折相位映射图;根据所述参考相位映射图和局部反卷折相位映射图,产生基线相位映射图;以及根据所述基线相位映射图、所述参考相位映射图和每个卷折相位图的局部反卷折相位映射图,产生多个反卷折相位图。
在一些实施例中,所述方法还包括:根据所述参考相位映射图和所述局部反卷折相位映射图产生第二场分布映射图。
在一些实施例中,所述产生反卷折相位差映射图包括:基于所述相位差映射图产生中间相位差映射图;根据所述中间相位差映射图产生局部质量映射图,所述局部质量映射图包括多个质量值,且所述中间相位差映射图中每个像素分别对应所述多个质量值中的一个;基于所述局部质量映射图对所述中间相位差映射图执行相位反卷折处理,产生反卷折中间相位差映射图;以及根据所述反卷折中间相位差映射图对所述相位差映射图执行相位反卷折处理,产生反卷折相位差映射图。
在一些实施例中,所述产生中间相位差映射图包括:对所述相位差映射图执行滤波处理。
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