[发明专利]一种多点同步测量方法和测量系统、以及存储介质

权利要求书

1.一种多点同步测量方法，其特征在于，包括：

控制待测试设备按照预定测试间距的多个测试点进行移动，控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内；

采集照射在测试设备上返回的一束或者多束激光束，根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值；通过干涉原理比较每束待测试设备反射的激光束和分割出来的另一束次级激光束，换算得出待测试设备在当前测试点上各个反射点所移动的位移值；

根据待测试设备在多个测试点移动得到多个位移值，并得出数据曲线，通过得到多个部位的位移值进一步换算在数据曲线中标识设备两端的位移差值的变化。

2.根据权利要求1所述的多点同步测量方法，其特征在于，每个激光头组件发出激光束后，将激光束分割为相同强度的两束次级激光束。

3.根据权利要求2所述的多点同步测量方法，其特征在于，所述控制多个激光头组件发出多束激光束，具体为：在待测试设备前方分别设置有三个激光头组件，且所述激光头组件分别固定在待测试设备的两端和中部的前方，并使得每个激光头组件在同一时刻被触发，统一进行被反射的激光束的采集。

4.根据权利要求3所述的多点同步测量方法，其特征在于，通过待测试设备的两端和中部的反射的激光束，得到待测试设备左端对应的第一位移值、待测试设备右端对应的第二位移值、以及待测试设备中部对应的第三位移值。

5.一种测量系统，用于实现权利要求1-4中任一项所述的多点同步测量方法，其特征在于，包括：一个或多个激光头组件、一个或多个分光组件、一个或多个反光组件、触发器和处理器；

所述处理器控制待测试设备按照预定测试间距的多个测试点进行移动，并控制一个或多个激光头组件发出一束或者多束激光束，一个或多个分光组件使得每束激光束分割为两束次级激光束，其中一束次级激光束照射在待测试设备上，另一束次级激光束返回激光头组件内；

一个或多个激光头组件采集照射在测试设备上返回的一束或者多束待测试设备反射的激光束，并根据待测试设备返回的激光束和分割出来的另一束次级激光束得出待测试设备上各个反射点的位移值；

所述处理器根据待测试设备在多个测试点移动得到的多个位移值，并得出数据曲线。

6.根据权利要求5所述的测量系统，其特征在于，每个激光头组件发出激光束后，分光组件将激光束分割为相同强度的两束次级激光束。

7.根据权利要求6所述的测量系统，其特征在于，所述激光头组件通过干涉原理比较每束待测试设备反射的激光束和分割出来的另一束次级激光束，换算得出待测试设备在当前测试点上各个反射点所移动的位移值。

8.根据权利要求7所述的测量系统，其特征在于，在待测试设备前方分别设置有三个激光头组件，且所述激光头组件分别固定在待测试设备的两端和中部的前方，并使得每个激光头组件在同一时刻被触发，统一进行被反射的激光束的采集；

通过待测试设备的两端和中部的反射的激光束，得到待测试设备左端对应的第一位移值、待测试设备右端对应的第二位移值、以及待测试设备中部对应的第三位移值。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有指令，所述指令被处理器执行时使得所述处理器执行根据权利要求1至4中任意一项所述多点同步测量方法。