[发明专利]半导体存储装置及其测试方法

权利要求书

1.一种半导体存储装置，包括：

比较电路，其被配置为响应于储存数据和预期数据来产生检测码；

计数电路，其被配置为响应于检测码来产生计数码；

选择码输出电路，其被配置为响应于选择信号来将多个预期码中的一个预期码选择性地输出为选择码；以及

比较结果输出电路，其包括多个信号储存电路，所述比较结果输出电路被配置为根据选择信号来将计数码与选择码之间的比较结果选择性地储存在所述多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中，以及比较结果输出电路被配置为响应于输出使能信号来将储存在所述多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中的值选择性地输出为结果信号。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其中，储存数据是储存在存储单元阵列中的数据，预期数据与输入至存储单元阵列的数据相同。

3.根据权利要求2所述的半导体存储装置，其中，比较结果输出电路基于存储单元阵列中故障存储单元的数量来输出结果信号。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其中，比较电路通过将储存数据的比特位与预期数据的比特位进行比较来产生与具有不同电平的比特位的数量相对应的码值的检测码。

5.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其中，计数电路产生具有与检测码相对应的码值的计数码。

6.根据权利要求5所述的半导体存储装置，其中，计数电路通过对检测码的高比特位或低比特位中的一种进行计数来产生计数码。

7.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其中，比较结果输出电路包括：

码储存电路，其被配置为储存计数码并且将储存的计数码输出为储存码；

码比较电路，其被配置为通过将储存码与选择码进行比较来产生码比较结果信号；以及

多个信号储存电路，其被配置为响应于选择信号来储存码比较结果信号，并且响应于输出使能信号来将储存码比较结果信号输出为结果信号。

8.根据权利要求7所述的半导体存储装置，其中，码比较电路通过判断储存码的码值是大于还是小于选择码的码值来判断是使能还是禁止码比较结果信号。

9.根据权利要求8所述的半导体存储装置，其中，码比较电路在储存码的码值大于选择码的码值时使能码比较结果信号，而在储存码的码值小于选择码的码值时禁止码比较结果信号。

10.根据权利要求7所述的半导体存储装置，其中，码比较结果信号响应于选择码而被储存在所述多个信号储存电路的一个信号储存电路中，以及储存在所述多个信号储存电路的一个信号储存电路中的码比较结果信号响应于输出使能信号而被输出为结果信号。

11.根据权利要求1所述 的半导体存储装置，其中，比较结果输出电路基于从选择码输出电路发送的选择码和从计数电路发送的计数码来将比较结果储存在一个信号储存电路中。

12.根据权利要求11所述的半导体存储装置，其中，选择码输出电路基于选择信号的值来将预期码输出为选择码。

13.一种测试方法，包括：

将数据储存在存储单元中；

将储存数据与预期数据进行比较；

响应于选择信号，将多个预期码中的一个选择性地输出为选择码；

响应于选择信号，将在储存数据与预期数据的比较过程中选择性地比较和储存选择码和比较结果；以及

选择性地输出在所述比较和储存步骤中储存的值中的一个。