[发明专利]半导体存储装置及其测试方法

说明书

一种半导体存储装置包括：响应于储存数据和预期数据来产生检测码的比较电路，响应于检测码来产生计数码的计数电路，响应于选择信号来将多个预期码中的一个预期码输出为选择码的选择码输出电路，以及多个信号储存电路。比较结果输出电路包括多个信号储存电路，该比较结果输出电路根据选择信号来将计数码与选择码之间的比较的比较结果储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中，以及响应于输出使能信号来将储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中的值输出为结果信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年3月29日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2017-0040076的韩国专利申请的优先权，其通过引用整体合并于此。

技术领域

各种实施例总体而言涉及一种半导体集成电路，更具体地，涉及一种半导体存储装置及其测试方法。

背景技术

半导体存储装置可以被配置为储存数据并输出所储存的数据。

通过对半导体存储装置是否正常储存数据的测试，可以执行用于确定正常储存数据的存储单元的数量以及异常储存数据或未储存数据的存储单元的数量的任务。

可以执行用于基于正常存储单元的数量和异常存储单元的数量来确定是否使用该半导体存储装置的任务。

发明内容

在本公开的一个实施例中，半导体存储装置可以包括：比较电路，其被配置为响应于储存数据和预期数据来产生检测码；计数电路，其被配置为响应于检测码来产生计数码；选择码输出电路，其被配置为响应于选择信号来将多个预期码中的一个预期码输出为选择码；以及比较结果输出电路，其包括多个信号储存电路，该比较结果输出电路被配置为根据选择信号来将计数码与选择码之间的比较的比较结果储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中，以及比较结果输出电路被配置为响应于输出使能信号来将储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中的值输出为结果信号。

在本公开的一个实施例中，测试方法可以包括：将数据储存在存储单元中；将储存数据与预期数据进行比较；将在储存数据与预期数据的比较过程中的比较结果与多个预期码进行比较和储存比较结果；以及选择性地输出在比较和储存步骤中储存的值中的一个。

下面在题为“具体实施方式”的部分中描述这些特征和其他特征、方面以及实施例。

附图说明

结合附图从下面的详细说明中将更加清楚地理解本公开的主题的上述和其他方面、特征和优点。其中：

图1是示出根据本公开的实施例的半导体存储装置的配置的示图；

图2是示出图1的比较结果输出电路的配置的示图；以及

图3是说明根据本公开实施例的半导体存储装置的测试操作的示图。

具体实施方式

将参考附图更加详细地描述本公开的各种实施例。附图是各种实施例(和中间结构)的示意图。因此，可以预期来自由于例如制造技术和/或公差导致的图示的配置和形状的变化。因此，所描述的实施例不应被解释为仅限于本文所示的特定配置和形状，而是可以包括不偏离如所附权利要求中定义的本公开的精神和范围的配置和形状的偏差。

本文中将参考本公开的理想化实施例的截面图和/或平面图来描述本公开。然而，本公开的实施例不应被解释为限制本发明概念。尽管将示出和描述本公开的一些实施例，但是本领域的普通技术人员将了解到，在不脱离本公开的原则和精神的情况下，可以在这些实施例中做出改变。

如图1所示，根据一个实施例的半导体存储装置10可以包括比较电路100、计数电路200、选择码输出电路300、比较结果输出电路400和存储单元阵列500。