[发明专利]一种轴承的凸出量工艺优化方法及其装置有效

专利信息
申请号: 201810041330.3 申请日: 2018-01-16
公开(公告)号: CN110039256B 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 王东峰;张振强;杨浩亮;尹延经;商琪 申请(专利权)人: 洛阳轴承研究所有限公司
主分类号: B23P15/00 分类号: B23P15/00;G06F30/17
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 崔旭东
地址: 471000 河南省*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 轴承 凸出 工艺 优化 方法 及其 装置
【权利要求书】:

1.一种轴承的凸出量工艺优化方法,其特征在于,包括以下步骤:

计算轴承的参数对轴承凸出量的影响系数;

确定所述参数在加工过程中对应工序的工序指数;

根据所述影响系数和所述工序指数计算得到综合提升系数;

根据所述综合提升系数调整所述参数;

所述参数中,第一参数为轴承的宽度B,第二参数为内圈沟位置尺寸ai,第三参数为外圈沟位置尺寸ae,第四参数为轴承径向游隙Gr,第五参数为内圈沟道曲率半径Ri,第六参数为外圈沟道曲率半径Re,第七参数为钢球直径Dw

所述轴承凸出量的计算公式为:

其中,δ为所述轴承凸出量;

对所述轴承凸出量的计算公式求偏导,得到公式为:

Δδ=A1ΔB-A2Δai-A3Δae+A4ΔGr-A5ΔDw+A6ΔRi+A7ΔRe

其中A1,A2,…,A7为所述影响系数,设Ai=(A1,A2,…,A7),i=1,2,…7;

所述工序指数计算公式为:

其中i为所述参数的编号,CPi为第i个参数对应的工序指数;TUi为第i个参数对应的公差上限;TLi为第i个参数对应的公差下限;Si为第i个参数对应的样本标准差;

所述综合提升系数为:

Ki=Ai*(CPi-1)

其中Ki为第i个参数对应的综合提升系数;

所述根据所述综合提升系数调整所述参数的方法为,优先调整工序综合提升系数较大的参数。

2.一种轴承的凸出量工艺优化装置,其特征在于:包括处理器和存储器,所述处理器用于执行存储在所述存储器中的程序以实现如下方法:

计算轴承的参数对轴承凸出量的影响系数;

确定所述参数在加工过程中对应工序的工序指数;

根据所述影响系数和所述工序指数计算得到综合提升系数;

根据所述综合提升系数调整所述参数;

所述参数中,第一参数为轴承的宽度B,第二参数为内圈沟位置尺寸ai,第三参数为外圈沟位置尺寸ae,第四参数为轴承径向游隙Gr,第五参数为内圈沟道曲率半径Ri,第六参数为外圈沟道曲率半径Re,第七参数为钢球直径Dw

所述轴承凸出量的计算公式为:

其中,δ为所述轴承凸出量;

对所述轴承凸出量的计算公式求偏导,得到公式为:

Δδ=A1ΔB-A2Δai-A3Δae+A4ΔGr-A5ΔDw+A6ΔRi+A7ΔRe

其中A1,A2,…,A7为所述影响系数,设Ai=(A1,A2,…,A7),i=1,2,…7;

所述工序指数计算公式为:

其中i为所述参数的编号,CPi为第i个参数对应的工序指数;TUi为第i个参数对应的公差上限;TLi为第i个参数对应的公差下限;Si为第i个参数对应的样本标准差;

所述综合提升系数为:

Ki=Ai*(CPi-1)

其中Ki为第i个参数对应的综合提升系数;

所述根据所述综合提升系数调整所述参数的方法为,优先调整工序综合提升系数较大的参数。

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