[发明专利]优先化错误检测与调度有效
申请号: | 201810051991.4 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108491288B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | M·D·赫顿;S·R·阿特萨特 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;G11C29/44;G11C11/412 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜;王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 优先 错误 检测 调度 | ||
1.一种用于对由集成电路使用的存储器单元的阵列执行优先化错误检测的方法,所述方法包括:
在错误检测电路处接收优先化错误检测调度,所述优先化错误检测调度规定针对所述存储器单元的阵列的第一子集进行更频繁的错误检测,而针对所述存储器单元的阵列的第二子集进行不那么频繁的错误检测;
利用所述错误检测电路,基于所述优先化错误检测调度来对所述存储器单元的阵列执行优先化错误检测;
利用所述错误检测电路,基于所述优先化错误检测调度以第一频率来对所述存储器单元的阵列的所述第一子集执行错误检测;以及
利用所述错误检测电路,基于所述优先化错误检测调度以第二频率来对所述存储器单元的阵列的所述第二子集执行错误检测,所述第二频率小于所述第一频率。
2.根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
响应于对所述存储器单元的阵列执行优先化错误检测,检测所述存储器单元的阵列的所述第一子集中的第一存储器单元中的错误;以及
响应于在所述存储器单元的阵列的所述第一子集中检测到错误,通过使用灵敏度映射执行对所述第一存储器单元的查找来确定所述错误的上下文。
3.根据权利要求2所述的方法,进一步包括:
响应于使用所述灵敏度映射执行对所述第一存储器单元的查找,获得对应于所述第一存储器单元的逻辑位置;以及
使用灵敏度处理器来确定与所述逻辑位置相关联的关键度等级。
4.根据权利要求3所述的方法,进一步包括:
使用查找表基于所述关键度等级和所述逻辑位置来确定针对所述第一存储器单元的校正动作。
5.根据权利要求4所述的方法,进一步包括:
执行针对所述第一存储器单元的所述校正动作。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述集成电路包括可编程集成电路,并且其中,执行针对所述第一存储器单元的所述校正动作包括:
执行对所述可编程集成电路的局部重新配置以校正所述第一存储器单元中的所述错误。
7.根据权利要求5所述的方法,其中,执行针对所述第一存储器单元的所述校正动作包括:
对所述存储器单元的阵列的所述第一子集中的帧进行重写。
8.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法,其中,由所述存储器单元的阵列的所述第一子集配置的第一逻辑电路具有第一关键度等级,所述方法进一步包括:
对具有第二关键度等级的第二逻辑电路的激活进行检测,所述第二关键度等级大于所述第一关键度等级;
确定所述第二逻辑电路具有内置的错误检测电路并且是由所述存储器单元的阵列的第三子集配置的;以及
修改所述优先化错误检测调度以包括所述存储器单元的阵列的所述第三子集。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,修改所述优先化错误检测调度包括:
修改所述优先化错误检测调度以规定相对于所述存储器单元的阵列的所述第一子集针对所述存储器单元的阵列的所述第三子集进行不那么频繁的错误检测。
10.根据权利要求1-7中任意一项所述的方法,进一步包括:
监测所述集成电路上的多个逻辑电路的活动,其中,所述多个逻辑电路是由所述存储器单元的阵列配置的;
响应于确定所述多个逻辑电路中的第一逻辑电路被去激活,修改所述优先化错误检测调度以排除所述存储器单元的阵列的对所述第一逻辑电路进行配置的子集;以及
利用所述错误检测电路,基于修改后的优先化错误检测调度来对所述存储器单元的阵列执行优先化错误检测。
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