[发明专利]一种漏电故障的检测电路及其检测方法

权利要求书

1.一种漏电故障的检测电路，其特征在于：所述的检测电路包括有信号采集模块(1)、信号接收模块(2)、主控模块(MCU)和报警模块(3)，所述信号采集模块(1)包括有分别连接地线(G)和零线(N)的两个输入端，该信号采集模块(1)的第一输出端和所述信号接收模块(2)的第一输入端相连，信号采集模块(1)的第二输出端和所述信号接收模块(2)的第二输入端相连，所述信号接收模块(2)的输出端和所述主控模块(MCU)的信号接收端(INTP)相连，所述主控模块(MCU)的信号发射端(P01)连接所述的报警模块(3)。

2.根据权利要求1所述的漏电故障的检测电路，其特征在于：所述信号采集模块(1)包括有第一二极管(D1)、第二二极管(D2)、第一电阻(R1)和第二电阻(R2)，其中，所述第一电阻(R1)的一端连接地线(G)，该第一电阻(R1)的另一端和所述第一二极管(D1)的正极相连，该第一二极管(D1)的负极一路和所述第二二极管(D2)的负极相连，另一路连接至所述信号接收模块(2)的第一输入端；所述第二电阻(R2)的一端和零线(N)相连，该第二电阻(R2)的另一端一路和所述第二二极管(D2)的正极相连，另一路连接至所述信号接收模块(2)的第二输入端，所述第二二极管(D2)的负极连接所述信号接收模块(2)的第一输入端。

3.根据权利要求1所述的漏电故障的检测电路，其特征在于：所述信号接收模块(2)包括有光耦(U1)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)和电容(C)，其中，所述光耦(U1)的发光二极管正极作为该信号接收模块(2)的第一输入端，所述光耦(U1)的发光二极管负极作为该信号接收模块(2)的第二输入端；所述光耦(U1)的接收二极管集电极一路经所述第四电阻(R4)连接直流电源，另一路经所述第三电阻(R3)连接所述主控模块(MCU)的信号接收端(INTP)，所述光耦(U1)的接收二极管发射极一路接地，另一路经所述电容(C)连接所述主控模块(MCU)的信号接收端(INTP)。

4.根据权利要求3所述的漏电故障的检测电路，其特征在于：所述主控模块(MCU)为富士通MB95690K系列芯片或者瑞萨RL78/G13系列芯片。

5.根据权利要求1所述的漏电故障的检测电路，其特征在于：所述报警模块(3)包括有第五电阻(R5)、三极管(Q)和蜂鸣器(BZ)，其中，所述主控模块(MCU)的信号发射端(P01)经所述第五电阻(R5)连接所述三极管(Q)的基极，所述三极管(Q)的发射极接地，所述三极管(Q)的集电极连接至所述蜂鸣器(BZ)，该蜂鸣器(BZ)由直流电压供电。

6.一种如权利要求1所述检测电路的漏电故障检测方法，其特征在于，设定所述主控模块的信号接收端INTP的初始信号为高电平，所述漏电故障检测方法包括有如下步骤：

步骤一、主控模块的信号接收端INTP是否发生信号跳变，如是，则开启漏电标志位Flag0，执行下一步骤；如否，则循环本步骤；

步骤二、主控模块的信号接收端INTP是否为低电平，如是，则低电平持续时间计时，并执行下一步骤；如否，则漏电标志位Flag0清除，回到步骤一；

步骤三、主控模块的信号接收端INTP的低电平持续时间是否达到预设值T0，如是，则执行下一步骤；如否，则回到步骤一；

步骤四、漏电标志位Flag0清除、信号接收端INTP的低电平持续时间清除以及信号接收端INTP的高电平持续时间清除，同时，漏电检测计数Cnt0启动，执行步骤五；

步骤五、定时器计时时间是否达到预设值t1，如是，则执行下一步骤；如否，则回到步骤一；

步骤六、漏电检测计数Cnt0是否大于预设值n0，如是，则Cnt0>n0的持续时间计时，并执行下一步骤；如否，则漏电检测计数Cnt0清除、Cnt0>n0的持续时间清除，然后回到步骤一；

步骤七、判断Cnt0>n0的持续时间是否达到预设值T2，如是，则漏电检测计数Cnt0清除，同时开启漏电故障标志位Flag1，然后执行下一步骤；如否，则回到步骤一；

步骤八、发生漏电故障，提示报警。