[发明专利]扫描仪以及扫描仪的制造方法

权利要求书

1.一种扫描仪，其特征在于，通过传感器读取输送来的原稿，

所述扫描仪具备：

带标记基准板，通过在基准板上作有标记而形成；

存储部，存储有作为通过所述传感器读取未带标记的所述基准板而得的结果的基准数据；以及

控制器，将读取数据与所述基准数据进行比较而算出阴影数据，并基于所述阴影数据对通过所述传感器读取到的所述原稿的读取图像进行阴影校正，所述读取数据是通过所述传感器读取所述带标记基准板而得的结果，

所述控制器基于所述标记的位置的所述基准数据和所述标记的位置周边的读取数据算出所述标记的位置的阴影数据。

2.根据权利要求1所述的扫描仪，其特征在于，

在将与所述原稿的输送方向交叉的主扫描方向上的坐标设为x、将用于确定在所述主扫描方向上形成有所述标记的范围的坐标x的值设为A、B、将坐标x上的所述基准数据设为X(x)、将坐标x上的所述读取数据设为Y(x)、将所述基准数据X(x)与所述读取数据Y(x)在所述主扫描方向上的相位的偏离量设为δx、将使坐标x偏移所述偏离量δx而得的坐标设为x′、将使所述读取数据Y(x)偏移所述偏离量δx而得的偏移后的读取数据设为Y(x′)、将所述主扫描方向上的规定距离设为C、将所述主扫描方向上的规定宽度设为Δx、以及将坐标x′上的阴影数据设为Y′(x′)时，所述控制器采用以下的式子(1)、式子(2)、式子(3)算出所述阴影数据Y′(x′)：

Y(x′)＝Y(x+δx) ···(1)

Y′(x′)＝Y(x′)，x′＝x+δx(x＜A或x＞B) ···(2)

Y′(x′)＝X(x)×[Average{Y(x′-C+Δx)}+Average{Y(x′+C+Δx)}]/[Average{X(x-C+Δx)}+Average{X(x+C+Δx)}](A＜x＜B) ···(3)。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的扫描仪，其特征在于，

所述标记设置于与所述原稿的输送方向交叉的主扫描方向上的所述基准板的中央部分。

4.一种扫描仪的阴影校正方法，其特征在于，所述扫描仪通过传感器读取输送来的原稿，并且，所述阴影校正方法具备：

基准数据存储工序，使存储部存储作为通过所述传感器读取阴影校正用的基准板而得的结果的基准数据；

标记形成工序，在所述基准板上作标记而形成带标记基准板；以及

计算工序，使控制器将读取数据与所述基准数据进行比较而算出阴影数据，并基于所述阴影数据对通过所述传感器读取到的所述原稿的读取图像进行阴影校正，所述读取数据是通过所述传感器读取所述带标记基准板而得的结果，

其中所述控制器基于所述标记的位置的所述基准数据和所述标记的位置周边的读取数据算出所述标记的位置的阴影数据。

5.根据权利要求4所述的扫描仪的阴影校正方法，其特征在于，

在所述标记形成工序中，将所述标记设置于与所述原稿的输送方向交叉的主扫描方向上的所述基准板的中央部分。